中茂 Chroma 自動光學檢測解決方案
2015-08-13
中茂 Chroma 自動光學檢測解決方案是結合機器視覺、光源系統(tǒng)與精密運動控制平臺的檢測設備，具有非接觸、量測速度快、與檢測標準一致等優(yōu)勢。中茂 Chroma 自動光學檢測解決方案依技術可區(qū)分為兩個應用范圍：二維瑕疵檢測方案與三維形貌量測方案。長沙艾克賽普儀器設備有限公司是中茂 Chroma 在華中地區(qū)授權代理商，可提供樣機和相關工程師上門演示溝通，以下是長沙艾克賽普儀器設備有限公司為您介紹中茂 Chroma 自動光學檢測解決方案系列產(chǎn)品的詳細介紹,如果您有任何問題或者需要相關資料，請隨時聯(lián)系：0731-84284278轉801，郵箱：shawn.xiao@hncsw.net。
3D納米顯微儀
- Model 7505-01 多功能光學檢測系統(tǒng)
- 7505-01多功能光學檢測系統(tǒng)，適合于微奈米及大范圍量測的應用。
- 一機具備1D、2D、3D量測能力
- 具備膜后量測功能(1D)，使用穿透反射式量測，可進行非破壞式膜厚量測
- 使用高解析度線型掃瞄相機，可進行2D瑕疵量測，可檢出氣泡、刮傷、異物等瑕疵
- 使用白光干涉量測技術，可進行3D三維形貌量測
- Model 7505-02 線上型自動化光學檢測系統(tǒng)
- 本線上型自動化光學檢測系統(tǒng)7505-02，主要運用高速相機對ITO (Indium Tin Oxide)薄膜丶RFID丶FPC等連續(xù)式(Roll to Roll)制程進行影像拍攝，是以PC-based為架構的線掃描(Line-scan)影像檢測系統(tǒng)。
- 適用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜丶RFID丶FPC等連續(xù)式(Roll to Roll)制程線上即時自動光學檢測
- 配備高解析度線型掃描相機，可檢出氣泡及刮傷等臟污及瑕疵
- 使用多支相機同時進行取像，檢測速度快
- 配備位置控制和反饋系統(tǒng)，可得到精確及清晰的掃描圖像
- Model 7503 三維光學輪廓儀
- 三維光學輪廓儀乃利用掃描白光干涉技術所發(fā)展之次奈米三維光學輪廓量測儀，透過精密的掃描系統(tǒng)以及創(chuàng)新演算法進行微奈米結構物表面輪廓的量測與分析。并可依據(jù)需求搭配彩色或單色相機進行2D量測，使系統(tǒng)亦具備工具顯微鏡量測功能，達到一機多用途的目的。
- 階高量測解析度可達0.1 nm
- 使用白光干涉量測技術，非破壞性、快速表面形貌量測與分析
- 模組化設計可依量測需求及預算考量進行各部件選配
- 可搭配彩色或單色相機進行2D量測，使系統(tǒng)亦具備工具顯微鏡量測功能
光伏自動光學檢測系統(tǒng)
- Model 7200 series 光伏電池片與硅片自動化檢測系統(tǒng)
- Chroma 7200系列就是為了可以檢測所有產(chǎn)線上生產(chǎn)的硅晶圓以及電池片的瑕疵所設計的。
- Model 7201 光伏硅片外觀暨表面臟污檢測機
- 光伏硅片外觀暨表面臟污檢測
- RGB LED光源頻閃式設計
- 高速檢測
- Model 7202 光伏硅片品質(zhì)檢測機
- 硅片品質(zhì)檢測
- 精準計算類單晶晶格比例
- 孔洞與缺角檢測
- Model 7211-D 光伏電池片顏色分選機
- 光伏電池片顏色分選
- 最接近人眼視覺效果的CIELAB色彩空間檢測原理
- 無上限的分色類別設定
- Model 7212-HS 光伏電池片正面印刷暨表面臟污檢測機
- 光伏電池片正面印刷暨表面臟污檢測
- 可檢測到最細微36um/pixel的網(wǎng)印Finger線
- 可安裝于前端網(wǎng)版印刷制程或者后端出貨分類制程
- Model 7213-AD 光伏電池片背面印刷暨表面臟污檢測機
- 光伏電池片背面印刷暨表面臟污檢測
- V型缺角以及剝落類型的瑕疵檢測
- 可安裝于前端網(wǎng)版印刷制程或者后端出貨分類制程
- Model 7214-D 光伏電池片抗反射層鍍膜檢測機
- 抗反射層鍍膜檢測
- 瑕疵與鍍膜不均勻的檢測
- 可安裝于前端PECVD制程之后或者安裝于網(wǎng)版印刷制程之前
- Model 7231 光伏硅片線鋸痕檢測機
- 光伏硅片線鋸痕檢測
- 符合EN-50513 2009的檢測手法
- 高度可靠的檢測結果
自動光學檢測系統(tǒng)
- Model 7936 雙面晶圓檢測系統(tǒng)
- It can do double side inspection simultaneously
- Maximum 8 inch wafer handling capability(10 inch inspection area)
- Model 7935 晶圓檢測系統(tǒng)
- 應用于8吋以下晶粒外觀檢查。
- 最大可檢測8”晶圓 (檢測區(qū)域達10“范圍 )
- 適合LED, 雷射二極體及影像感測器等產(chǎn)業(yè)
- 影像辨識成功率高達98%
- 可結合上游測試機晶粒資料，合并后上傳至下一道制程設備
影像傳感器檢測系統(tǒng)
- Model 7970 影像傳感器檢測系統(tǒng)
- Chroma 7970 影像感測器檢測系統(tǒng)為一自動化載盤式外觀檢測系統(tǒng)，可檢測影像感測器正反兩面外觀瑕疵。
- 提供完整的影像感測器玻璃面與錫球面外觀檢測功能
- 可大幅降低處理時間之定速連續(xù)取像功能
- 已申請專利的多吸嘴吸取功能可增加整體檢測速度
- 先進的光源系統(tǒng)可適用于不同的瑕疵類型
液晶/顯示器自動光學檢測系統(tǒng)
- Model 7310 實體影像顯微檢視儀
- 以高解析度彩色CCD 攝影機為基礎的顯微影像檢視系統(tǒng)，其可透過彩色電視機、電腦螢幕或視訊投影機等各式顯示器來觀察細小的物體。
- 操作簡便。
- 檢測畫面停格功能
- 影像畫面比對功能
- 多種導光罩設計以便利觀測使用所需
- 用途廣泛
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