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以客戶的成功定義成功,賦能企業(yè)創(chuàng)新,來自企業(yè)的信賴

Accexp代理的Chroma高加速應(yīng)力測試方案

2017-05-03

  高加速壽命試驗(yàn)(Highly Accelerated Life Testing,簡稱HALT試驗(yàn))是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞極限,從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。
  HALT試驗(yàn)是由美國軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法,現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6個(gè)月甚至1年的新產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)縮短至一周,且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致,故HALT的試驗(yàn)方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過的驗(yàn)證。
  在產(chǎn)品研制階段,為得出產(chǎn)品設(shè)計(jì)裕度和極限承載能力(破壞或損傷極限)而設(shè)計(jì)的一種試驗(yàn),它應(yīng)用步進(jìn)的方法給產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力并檢測其性能,直到產(chǎn)品失效為止。為提高試驗(yàn)效率,所施應(yīng)力并非工作環(huán)境的模擬而是加速應(yīng)力,通常為高變溫率(至少應(yīng)大于25°C/min)的溫度循環(huán)和多軸隨機(jī)振動(dòng),還包括有通電循環(huán)、電壓偏低、頻率偏差等電應(yīng)力。高加速壽命試驗(yàn)得到的應(yīng)力極限值可以作為確定高加速環(huán)境應(yīng)力篩選的應(yīng)力量值的依據(jù)。

                                                          Chroma原廠資深工程師帶來高加速應(yīng)力測試方案
加速應(yīng)力測試 = QualMark開發(fā)的技術(shù)
HALT
高加速壽命實(shí)驗(yàn)(Highly Accelerated Life Test)
于涉及期間暴露故障
用于延伸操作極限的機(jī)會(huì)
加速上市時(shí)間
減少保修要求
HASS
高加速應(yīng)力篩選HASS (Highly Accelerated Stress Screen)
暴露于生產(chǎn)期間造成的故障
保證供應(yīng)鏈的可靠性
HALT基本程序
◇將您的產(chǎn)品放置于一個(gè)逐步增加應(yīng)力強(qiáng)度的環(huán)境
極限溫度 (+200°C TO -100°C)
極快速溫度變化率 (每分鐘60度以上)
震動(dòng) (類隨機(jī);六自由度震動(dòng))
綜合應(yīng)力 (溫度+震動(dòng))
◇在應(yīng)力環(huán)境下測試被測產(chǎn)品以確認(rèn)極限
◇發(fā)現(xiàn)故障, 解決故障或是做簡單處置, 然后繼續(xù)測試
◇停止測試當(dāng)達(dá)到產(chǎn)品基本技術(shù)極限


HALT效果調(diào)研
  HALT以連續(xù)的測試、失效分析、缺陷改進(jìn)及驗(yàn)證構(gòu)成了整個(gè)程序,而且可能是個(gè)閉環(huán)循環(huán)過程。往往一個(gè)測試計(jì)劃,需要重復(fù)進(jìn)行幾次,除非一次性能經(jīng)受加速應(yīng)力試驗(yàn)。其關(guān)鍵在于分析失效的根本原因。試驗(yàn)的主要功能如下:
1 利用高環(huán)境應(yīng)力將產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷激發(fā)出來,并加以改善;
2 了解產(chǎn)品的設(shè)計(jì)能力及失效模式;
3 作為高應(yīng)力篩選及制定品質(zhì)核查規(guī)格的參考;
4 快速找出產(chǎn)品制造過程的瑕疵;
5 增加產(chǎn)品的可靠性,減少維修成本;
6 建立產(chǎn)品設(shè)計(jì)能力數(shù)據(jù)庫,為研發(fā)提供依據(jù)并縮短設(shè)計(jì)制造周期。
  2008年調(diào)研顯示沒有Qualmark加速可靠性技術(shù)支持提供的綜合環(huán)境應(yīng)力,32%的故障模式將被錯(cuò)過。常規(guī)的設(shè)計(jì)測試技術(shù)(只有振動(dòng)與只有溫度),與現(xiàn)今的電子產(chǎn)品,找出故障模式的效果是比較差的。

Pin斷腳

冷焊及空焊

線材松脫

  HALT/HASS/HASA明顯改善各行業(yè)保修期返還率

  HALT的可靠性測試技術(shù)在國內(nèi)外電子業(yè)界已得到廣泛關(guān)注和認(rèn)識(shí)。因其具有傳統(tǒng)的環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)難以媲美的功效,目前被國外眾多知名企業(yè)采用。該試驗(yàn)直接體現(xiàn)出來的重要性,有以下幾點(diǎn):
1.快速暴露產(chǎn)品潛在缺陷;
2.通過試驗(yàn) → 改進(jìn) → 驗(yàn)證這一循環(huán)方式,有效增加產(chǎn)品的極限值;
3.產(chǎn)品可靠性得到明顯提升;
4.大大縮短產(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和上市周期;
5.長遠(yuǎn)來看,降低產(chǎn)品成本。 
 
 
 
 

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