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資訊

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同惠TH300E教學實驗系統(tǒng)涵蓋微電子學、集成電路設計、半導體CV特性等測試實踐

2024-07-05

前言

科技是第一生產(chǎn)力,人才是第一資源。 

在科技與人才雙驅(qū)動的新時代,高等教育致力于提升人才培養(yǎng)質(zhì)量,特別是培養(yǎng)理論研究、半導體設計、工藝流程及研發(fā)管理的復合型人才。

同惠電子依托其在微電子和半導體測試的經(jīng)驗,設計了微電子實驗系統(tǒng),將實踐與測試理念融入教學,為實踐教學提供了新方向。


一、微電子實驗系統(tǒng)基本特點

1. 豐富的實驗項目

微電子教學實驗系統(tǒng)提供了多達9種實驗項目,涵蓋了微電子學、集成電路設計等方面。這些實驗項目旨在幫助學生全面了解微電子學的基本原理和集成電路設計的方法。

2. 靈活的實驗配置 

系統(tǒng)采用模組化設計,允許各設備獨立連接與操作,學生依據(jù)實驗目標靈活選擇設備,并在掌握原理后正確組裝連接,此過程有效鍛煉了其實踐動手能力。同時,“積木式”布局結(jié)合寬敞的實驗桌,實現(xiàn)了同一平臺上的多樣化實驗同步進行,顯著提升設備利用率并加速實驗進程。

3. 先進的實驗設備 

微電子教學實驗系統(tǒng)采用了先進的實驗設備和技術(shù),如最新科技產(chǎn)品:半導體CV特性測試儀、數(shù)字示波器、雙通道數(shù)字源表、信號源等,這些設備可以為學生提供真實的現(xiàn)實微電子設計、制造及測試環(huán)境,有利于學生畢業(yè)后更快適應微電子行業(yè)環(huán)境。 

4. 易于操作的學習平臺 

微電子教學實驗系統(tǒng)采用了直觀的操作界面和友好的人機交互設計,圖文化教學使學生能夠輕松地學習到微電子、集成電路、測試儀器的基本原理及實驗操作。同時,實驗臺還提供了詳細的實驗步驟和故障排除指南,幫助學生解決實驗過程中遇到的問題。


二、微電子教學實驗系統(tǒng)總體方案

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三、實驗內(nèi)容

1、 肖特基勢壘特性及雜質(zhì)的測量 

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本實驗旨在讓學生掌握肖特基二極管結(jié)構(gòu)、原理、應用,及其整流特性和勢壘電容。

2、電阻式傳感器的工作原理與測量

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本實驗旨在讓學生掌握各種不同電阻式傳感器的工作原理,并掌握LCR測量阻抗的方式。

3、場效應晶體管直流參數(shù)測試

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N溝道增強型MOSFET工作原理圖

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本實驗旨在讓學生更深入地了解MOSFET的工作原理,并掌握實驗操作技能,為未來的研究和工作奠定基礎。

4、PN結(jié)直流特性測試及PN結(jié)參數(shù)的變溫測試

本實驗旨在讓學生深入了解晶體管的工作機制,掌握實驗技能,并為未來的研究和工作打下堅實的基礎。

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5、雙極型晶體管直流參數(shù)的測量

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BJT基本結(jié)構(gòu)與電路符號

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本實驗旨在讓大家掌握雙極型晶體管的基本結(jié)構(gòu)及主要參數(shù)的定義,了解并利用源表進行雙極型晶體管輸入特性和輸出特性曲線的測量方法,以及了解雙極型晶體管輸出特性的常見缺陷及其產(chǎn)生的原因。

6、MOS器件靜態(tài)特性測試分析

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MOSFET輸出特性曲線

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本實驗旨在讓大家掌握MOFFET飽和漏電流ldss、閾值電壓Vth、跨導等靜態(tài)參數(shù)的測量方法,以及了解測量MOSFET輸出特性曲線的方法。

7、MOS器件CV特性測試

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本實驗旨在讓學生了解場效應管的動態(tài)參數(shù)與寄生電容,熟悉動態(tài)參數(shù)中Ciss、Coss、Crss等的定義及危害,并掌握它們的測量方法和曲線掃描技巧。

8、MOS器件動態(tài)開關特性測試

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本實驗旨在讓大家掌握MOSFET開啟過程、開關時間定義、熟練掌握函數(shù)信號發(fā)生器和數(shù)字存儲示波器的使用。

9、集成運放特性分析測試(上、下)

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本實驗旨在讓大家了解集成電路的概念,熟悉集成運放放大器的結(jié)構(gòu),了解集成電路放大器中的各種參數(shù)概念,并掌握集成電路放大器的參數(shù)測量方法。

四、微電子教學實驗系統(tǒng)儀器配置清單

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五、微電子教學實驗系統(tǒng)儀器技術(shù)參數(shù)

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六、實驗與課程

微電子教學實驗系統(tǒng)支持下列實驗及課程體系:

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同惠深知,人才是國家發(fā)展的根本,而高素質(zhì)、綜合能力的科技人才更是推動科技進步與產(chǎn)業(yè)升級的關鍵力量。因此,同惠致力于通過TH300E微電子教學實驗系統(tǒng),為我國的教育事業(yè)添磚加瓦,助力培養(yǎng)出一代又一代的科技新星。


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