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儀器中文名稱: SPM掃描探針顯微鏡
儀器型號規(guī)格: AJ-Ⅲ
生產廠商: 上海愛建納米科技發(fā)展有限公司
國別: 中國
購置日期(年): 2003-3-17
使用日期(年): 2003-4-17
主要技術指標: 分辨率：XY方：0.2nm；z方向：01nm。 掃描器工作范圍：1um×1um,3um×3um，20um×20um，50um×50um，100um×100um可選 掃描角度：0～360度，連續(xù)掃描速度：0.1HZ～240HZ。
主要附件及功能: 1、觀測材料表面；2、檢測大規(guī)模集成電路；3、可對DNA、蛋白質等進行原位成像；4、可觀測表面化學反應的原子級變化。
本單位該儀器主要應用領域：材料
檢測項目： 表面觀察
收費標準： 面議