儀器租賃
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FEI Quanta 200環(huán)境掃描電子顯微鏡出租FEI Quanta 200環(huán)境掃描電子顯微鏡加速電壓0-30KV，分辨率3.5nm，有效放大倍數(shù)10萬(wàn)倍以下. 能譜儀（EDS）:材料成分分析;背散射電子衍射（EBSD）:晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)分析等。...
05-24 2011
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JGP450超高真空濺射與蒸發(fā)系統(tǒng)出租儀器中文名稱: 超高真空濺射與蒸發(fā) 儀器型號(hào)規(guī)格: JGP450 生產(chǎn)廠商: 中國(guó)沈陽(yáng)科學(xué)儀器中心有限公司 國(guó)別: 中國(guó) 購(gòu)置日期(年): 2008-3-1 使用日期(年): 2008-9-1 主要技術(shù)指標(biāo): ① 檢測(cè)抽速：主濺室40分鐘真空度達(dá)到6.610-4帕；進(jìn)樣室40分鐘真空度達(dá)到6.610-3帕；蒸發(fā)...
04-01 2011
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瑞士BIICHI MIN Clave微量反應(yīng)器出租儀器中文名稱: 微量反應(yīng)器 儀器型號(hào)規(guī)格: MIN Clave 生產(chǎn)廠商: 瑞士BIICHI 國(guó)別: 瑞士 購(gòu)置日期(年): 2007-1-1 使用日期(年): 2007-6-1 主要技術(shù)指標(biāo): 250℃ 堿性體系； ＜120℃ 酸性體系；體積：100毫升； 2℃ 主要附件及功能: 本單位該儀器主要應(yīng)用領(lǐng)域：生物醫(yī)學(xué),...
04-01 2011
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美國(guó)Princeton Applied-Research 283電化學(xué)綜合測(cè)試儀出租儀器中文名稱: 電化學(xué)綜合測(cè)試儀 儀器型號(hào)規(guī)格: Model 283 生產(chǎn)廠商: 美國(guó)Princeton Applied-Research 國(guó)別: 美國(guó) 購(gòu)置日期(年): 2002-12-1 使用日期(年): 2003-6-1 主要技術(shù)指標(biāo): 電流范圍： 1nA-0.1A 電壓范圍： 80V 輸入阻抗： ＞10 13 頻譜范圍：10-5-10 6Hz 主...
04-01 2011
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Setaram C80 恒溫微量量熱計(jì)出租儀器中文名稱: 恒溫微量量熱計(jì) 儀器型號(hào)規(guī)格: C80 生產(chǎn)廠商: Setaram 國(guó)別: 法國(guó) 購(gòu)置日期(年): 2008-1-1 使用日期(年): 2008-7-1 主要技術(shù)指標(biāo): C80儀器的使用溫度范圍從室溫到300℃。 具備以下操作模式：等溫、程序加熱、程序降溫。 加熱速度達(dá)到能以0.01℃/min的...
04-01 2011
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熱重差熱同步分析儀出租儀器中文名稱: 熱重差熱同步分析儀 儀器型號(hào)規(guī)格: POLYVAR-MET 儀器型號(hào)規(guī)格: TGA-SDTA851e 生產(chǎn)廠商: 梅特勒公司 國(guó)別: 瑞士 購(gòu)置日期(年): 2001-2-1 使用日期(年): 2001-8-1 主要技術(shù)指標(biāo): 儀器測(cè)試溫度范圍：室溫~1200℃ 線性升溫速率：0.01~100℃/min 樣品測(cè)量范...
04-01 2011
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POLYVAR-MET 大型金相定量分析系統(tǒng)出租儀器中文名稱: 大型金相定量分析系統(tǒng) 儀器型號(hào)規(guī)格: POLYVAR-MET 生產(chǎn)廠商: ？ 國(guó)別: 德國(guó) 購(gòu)置日期(年): 1987-1-1 使用日期(年): 1987-6-1 主要技術(shù)指標(biāo): 顯微鏡放大倍數(shù)50X至1500X（不連續(xù)），配有0.8，1.25兩個(gè)變倍器。鹵素?zé)艏半艄庠础Ｅ溆忻鲌?chǎng)，暗場(chǎng)，偏振...
04-01 2011
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KLA－TENCOR Alpha-Step IQ臺(tái)階儀出租儀器中文名稱: 臺(tái)階儀 儀器型號(hào)規(guī)格: Alpha-Step IQ 生產(chǎn)廠商: KLA－TENCOR Corporation 國(guó)別: 美國(guó) 購(gòu)置日期(年): 2005-5-1 使用日期(年): 2005-11-1 主要技術(shù)指標(biāo): 掃描長(zhǎng)度：10mm （2）掃描速度：2m/s～200m/s （3）臺(tái)階高度可重復(fù)性： 0.8nm的典型標(biāo)準(zhǔn)偏差或0.1%...
04-01 2011
