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測量輻射粒子厚型氣體探測器試制成功
2011-04-01
日前，測量輻射粒子的厚型氣體電子倍增探測器THGEM多孔膜板在中國航天科工集團(tuán)試制成功，其高精度、高密度和在較低工作電壓下獲得高氣體增益的特點(diǎn)將為我國這類新型氣體探測器的研發(fā)躋身國際先進(jìn)水平奠定基礎(chǔ)。
該新型氣體探測器研發(fā)項(xiàng)目是國家自然科學(xué)基金課題，其中THGEM多孔膜板由中國航天科工集團(tuán)公司二院699廠承擔(dān)試制。這類探測器可應(yīng)用于高能物理核物理研究，X射線和同步輻射應(yīng)用、宇宙學(xué)空間研究、等離子體診斷、核安全防護(hù)方面的微劑量檢測與利用宇宙線多次散射檢測核材料、生物醫(yī)學(xué)成像與對紫外光區(qū)靈敏的日盲探測等方面。
據(jù)介紹，THGEM多孔膜板制作工藝在國際上屬于前沿技術(shù)，目前已試制成功的樣板是在5×5平方厘米、厚度僅為0.2毫米的雙面覆銅箔板上按“正三角形等距”規(guī)范打下數(shù)萬個直徑約為0.2毫米的孔。
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