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測量輻射粒子厚型氣體探測器試制成功
2011-04-01
日前，測量輻射粒子的厚型氣體電子倍增探測器THGEM多孔膜板在中國航天科工集團試制成功，其高精度、高密度和在較低工作電壓下獲得高氣體增益的特點將為我國這類新型氣體探測器的研發(fā)躋身國際先進水平奠定基礎(chǔ)。
該新型氣體探測器研發(fā)項目是國家自然科學(xué)基金課題，其中THGEM多孔膜板由中國航天科工集團公司二院699廠承擔(dān)試制。這類探測器可應(yīng)用于高能物理核物理研究，X射線和同步輻射應(yīng)用、宇宙學(xué)空間研究、等離子體診斷、核安全防護方面的微劑量檢測與利用宇宙線多次散射檢測核材料、生物醫(yī)學(xué)成像與對紫外光區(qū)靈敏的日盲探測等方面。
據(jù)介紹，THGEM多孔膜板制作工藝在國際上屬于前沿技術(shù)，目前已試制成功的樣板是在5×5平方厘米、厚度僅為0.2毫米的雙面覆銅箔板上按“正三角形等距”規(guī)范打下數(shù)萬個直徑約為0.2毫米的孔。
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