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中國測試儀器行業(yè)的發(fā)展不足解析
2012-05-11
導(dǎo)讀:測試測量和儀器產(chǎn)業(yè),是國防裝備必須的保障,也是研發(fā)前沿科技的利器,同時(shí)更是任何電子技術(shù)都避不開的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。然而,無論從國防還是民用需求,我們接觸到的測試系統(tǒng)以及測試儀器,在高性能應(yīng)用上無一例外都是進(jìn)口品牌。
據(jù)統(tǒng)計(jì),測試儀器產(chǎn)業(yè)所占電子工業(yè)的產(chǎn)值大約只有不足2%,而電子工業(yè)的產(chǎn)值不過占世界總產(chǎn)值的2%左右,但依靠測試儀器拉動(dòng)的新技術(shù)帶來的附加價(jià)值卻可以占70%-75%的全世界每年新增的價(jià)值。作為一種應(yīng)用遍及基礎(chǔ)研究到生產(chǎn)線的基礎(chǔ)性產(chǎn)品和技術(shù),電子測試儀器行業(yè)的強(qiáng)大,完全可以拉動(dòng)一個(gè)國家創(chuàng)新帶動(dòng)的新增價(jià)值。
作為一個(gè)高技術(shù)、資本密集、橫跨多個(gè)學(xué)科并且強(qiáng)調(diào)多年技術(shù)積累的行業(yè),我們在測試儀器方面與國外企業(yè)的差距是全方位的,不僅僅是技術(shù)、經(jīng)驗(yàn)和資金不足,更重要的是在概念、標(biāo)準(zhǔn)和理念等方向的差距和在決策方面的不夠重視。
對國產(chǎn)測試儀器而言,我們始終是跟著別人的腳步在學(xué)習(xí),這是業(yè)內(nèi)專家一致認(rèn)為我們存在的最大問題。我們還沒有能力去定義儀器的架構(gòu),儀器的基礎(chǔ)概念,這就讓我們在面對各種新興技術(shù)涌現(xiàn)之時(shí),根本無法開發(fā)出相應(yīng)的測試儀器滿足其測試需求,即使這個(gè)技術(shù)可能是我們最先預(yù)見的,也不得不將大好的商機(jī)讓給國外企業(yè),反過來當(dāng)我們需要進(jìn)行測試之時(shí),又不得不掏錢去購買。
技術(shù)上的不足
這些年,特別是在軍用測試方面,我們看到的是各種總線技術(shù)的盛行,然而不管是最早的GPIB,還是后來的VXI,現(xiàn)在流行的PXI或是不慍不火的LXI,甚至正在興起的AXIe總線,都是外國人定義研發(fā)的,這也就意味著,我們要應(yīng)用這些總線技術(shù),就逃不開他們定義的測試系統(tǒng)架構(gòu)及測試方法,在此基礎(chǔ)上,即使總線標(biāo)準(zhǔn)是開放的,即使我們在硬件設(shè)計(jì)上具有和他們一樣的實(shí)力,但是在對總線技術(shù)的理解上,我們依然存在著不足,同樣的技術(shù)我們確實(shí)應(yīng)用起來有差距,更何況,多數(shù)情況下我們不得不去購買他們的產(chǎn)品來滿足我們的測試系統(tǒng)要求。
如果說在這些系統(tǒng)級測試儀器方面,因?yàn)殚_放的總線,我們的技術(shù)差距相對比較小,那么在臺式儀器方面,我們的差距幾乎很難去估量。對于基礎(chǔ)的測試儀器而言,其架構(gòu)和概念并不難理解,但到了具體的功能定義和產(chǎn)品的功能實(shí)現(xiàn)方面,我們就存在著較大的差距。無法定義產(chǎn)品的功能并確保能實(shí)現(xiàn),這會讓我們的測試儀器開發(fā)和應(yīng)用陷入的是一個(gè)尷尬的循環(huán)。我們無法跟蹤先進(jìn)的電子技術(shù)發(fā)展的前沿科技,就沒有辦法了解其測試需求,就自然無法去為此開發(fā)適合最新技術(shù)的測試儀器,那么更談不上把握最新的測試市場脈搏和賺取最豐厚的那部分利潤,而你做不來先進(jìn)新技術(shù)的測試,新技術(shù)出現(xiàn)的時(shí)候你就抓不住,人家也不可能交給你去滿足最初的測試需求,這樣就無法了解最新的技術(shù)動(dòng)向,也就無法將新技術(shù)應(yīng)用到你的測試儀器中。在這個(gè)循環(huán)中,我們始終無法找到一個(gè)突破口,而只能默默看著在一次次新技術(shù)經(jīng)歷這樣的循環(huán)后,距離最前沿技術(shù)和測試越來越遠(yuǎn)。
在國防和軍用測試中,制約本土測試儀器應(yīng)用一個(gè)更重要的問題來自于核心半導(dǎo)體器件的缺失,我們看到的是,國內(nèi)的測試儀器企業(yè),無論是老牌國有研究所還是新興的私有測試儀器企業(yè),自身具備的芯片研發(fā)能力相比國際巨頭有非常大的差距??梢哉f,測試用的芯片因?yàn)槠涮厥獾囊恍┮?,在市場上是很難找到相關(guān)合適的產(chǎn)品,特別是在信號分析和信號采集方面,模擬前端技術(shù)和信號采集技術(shù)的不足,直接體現(xiàn)在我們的測試儀器無法捕獲我們需要的一些特征信號,比如雷達(dá)和微波技術(shù)的絕大部分需求,商用芯片是無法滿足其測試需求的,這樣的結(jié)果是,我們的測試儀器廠商不是不知道怎么去滿足,而是沒有相關(guān)的半導(dǎo)體器件能夠讓我們做出滿足這些采樣率、帶寬需求的產(chǎn)品,而這兩點(diǎn),恰恰是國防軍工應(yīng)用中許多信號分析和信號處理的前提。
觀念和思維的差距
抹平技術(shù)上的差距,不是一蹴而就的事情。但比起技術(shù)上的差距,我們在測試儀器上存在的觀念和思維的差距看起來很容易解決,但實(shí)際執(zhí)行起來,比技術(shù)上的差距更難面對也更關(guān)鍵。測試儀器是個(gè)資本密集型企業(yè),企業(yè)的生產(chǎn)規(guī)模很重要,測試儀器又是一個(gè)市場比較小的行業(yè),因?yàn)閮x器種類繁多,所以單個(gè)儀器種類的市場注定不可能很大。這給中國企業(yè)迎頭趕上增加了更大的難度,一方面,作為技術(shù)密集型和積累型行業(yè),面對這么多已經(jīng)領(lǐng)先很多的國外競爭對手,要把測試儀器做大做強(qiáng),就要有足夠多的投入,并且短期內(nèi)不要指望回報(bào),這一點(diǎn)無疑僅靠一些私企是很難有這么強(qiáng)大的財(cái)力去做支撐的。因此,必須要有國家戰(zhàn)略高度的規(guī)劃和相關(guān)資源的大力支撐,才有機(jī)會去不斷縮小差距??梢哉f,如果測試儀器企業(yè)無法做到一個(gè)比較大的規(guī)模,那么就很難具備和國際巨頭一較長短的實(shí)力,而前期的成長需要巨額長期的資金投入。
另一方面,因?yàn)槭袌霾淮螅跃透獜?qiáng)調(diào)企業(yè)研發(fā)的連續(xù)性和專注性,而對于國內(nèi)的私企來說,他們面臨著生存的壓力,而對于很多國有科研院所而言,他們也面臨創(chuàng)收指標(biāo)以及各種前沿課題的研究,無法專注于對一兩類的產(chǎn)品進(jìn)行精耕細(xì)作,十年磨一劍錘煉精品。在我們的經(jīng)驗(yàn)和對測試?yán)斫舛记啡钡慕裉?,若不靜下心來好好做出幾款精品,我們拿什么去和國外企業(yè)競爭?再者,因?yàn)槭袌黾?xì)分復(fù)雜,因此,對測試儀器的架構(gòu)和理念的研究的短期意義很難體現(xiàn),這就讓一些原本從戰(zhàn)略上國家支持其研究測試儀器架構(gòu)和概念的研究機(jī)構(gòu)不再愿意將精力集中于此,而是去追求短期利益更好的其他工作,從而造成只有各個(gè)儀器廠商去自己研發(fā)這些通用的基礎(chǔ)理念,造成很多研發(fā)資源的重復(fù)浪費(fèi)。
另一個(gè)欠缺的觀念上的差距是服務(wù)??梢哉f,作為一個(gè)毛利率超過50%的行業(yè),很大部分的企業(yè)銷售利潤是用以提供優(yōu)質(zhì)的市場培育、售后服務(wù)和技術(shù)支持的。特別是在用戶的測試體驗(yàn)和測試習(xí)慣培養(yǎng)方面,國內(nèi)企業(yè)在意識上的差距與國際企業(yè)相比差得實(shí)在太遠(yuǎn)。某國內(nèi)測試儀器生產(chǎn)企業(yè)表示,他們和國外競爭對手的產(chǎn)品性能類似,但用戶界面UI和操作的通用性方面相差太遠(yuǎn),而在用戶中的宣傳更是幾乎為零。當(dāng)用戶有相應(yīng)的測試需求時(shí),即使兩個(gè)產(chǎn)品的性價(jià)比等指標(biāo)完全不同,用戶也很難去選擇他們的產(chǎn)品而放棄國外產(chǎn)品,原因只有一個(gè),用戶會用。
經(jīng)過幾個(gè)小時(shí)的討論,與會的專家紛紛闡述了各自的觀點(diǎn),匯總起來大致包含如下幾點(diǎn):
一,解決中國測試儀器落后的問題不僅僅是錢和人的問題,涉及觀念、思維和技術(shù)積累以及國家戰(zhàn)略的重視。二,測試儀器水平的高低,直接影響了我國國防科技和相關(guān)電子工業(yè)的自主創(chuàng)新能力和戰(zhàn)略布局。
三,測試儀器的問題,同時(shí)也是國家在軟件和硬件方面不足的集中體現(xiàn),測試儀器的繁榮離不開相關(guān)的軟硬件實(shí)力的提升。
四,解決測試儀器的落后問題,需要的是國有科研機(jī)構(gòu)和企業(yè),以及民營和私營企業(yè)共同努力,需要從標(biāo)準(zhǔn)到架構(gòu)到概念的一系列測試體系的逐步建立。
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