Tektronix泰克 誤碼率測試儀BSX320
名稱：誤碼率分析儀
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型號：
簡介：Tektronix泰克 誤碼率測試儀BSX320引入了能夠支持第四代及以上新興標準的接收機測試平臺。通過增加強大的數(shù)據(jù)處理和內(nèi)置發(fā)射機均衡技術(shù)，BERTScope 支持基于協(xié)議的握手功能，并與被測器件 (DUT) 同步，包括交互式鏈路訓練，...
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- 產(chǎn)品介紹
Tektronix泰克 誤碼率測試儀BSX320引入了能夠支持第四代及以上新興標準的接收機測試平臺。通過增加強大的數(shù)據(jù)處理和內(nèi)置發(fā)射機均衡技術(shù)，BERTScope 支持基于協(xié)議的握手功能，并與被測器件 (DUT) 同步，包括交互式鏈路訓練，支持最高 32 Gb/s 的數(shù)據(jù)速率。Tektronix泰克 誤碼率測試儀BSX320縮短了調(diào)試物理層和鏈路訓練問題所需的時間，為滿足各種標準提供了最快速的途徑。
Tektronix泰克 誤碼率測試儀BSX320主要性能指標
- 高達 32 Gb/s 的碼型發(fā)生和誤碼分析功能
- 選配內(nèi)置 4 階發(fā)射機均衡功能，支持交互式鏈路訓練
- 面向協(xié)議和面向位的多鏈碼型定序技術(shù)，增強型碼型/序列編輯器
- 激勵響應反饋，用戶自定義檢測器碼型匹配
- 已獲專利的誤碼定位分析技術(shù)（Error Location Analysis™ ），超越BER測量，分析關(guān)聯(lián)度和確定性錯誤碼型，深入了解誤碼根源
- 選配前向糾錯分析技術(shù)，根據(jù)測得誤碼位置碼型仿真FEC后誤碼率
- 集成眼圖和 BER 關(guān)聯(lián)功能，包括模板測試、抖動峰值、BER輪廓
- 選配抖動分離及定位 (Jitter Map) 系統(tǒng)，提供豐富的抖動解析 – 支持長碼型（如 PRBS-31）
Tektronix泰克 誤碼率測試儀BSX320主要特點
- 為接收機壓力測試、調(diào)試和一致性測試提供單一解決方案
- 測試第三代和第四代標準，包括 PCIe、SAS 和 USB3.1 及各種自主開發(fā)的標準
- 超過 16 Gb/s 的 DUT 握手功能，滿足環(huán)回發(fā)起和自適應鏈路訓練的接收機測試要求，支持 PCIe 等主要標準
- 協(xié)議識別碼型發(fā)生和誤碼檢測，支持靈活的激勵響應編程能力，調(diào)試握手問題。
- 前向糾錯(FEC)仿真選項，可以測量糾錯前和糾錯后BER，支持常用的Reed-Solomon FEC代碼。
- 為各種主要標準提供了校準和測試自動化軟件
Tektronix泰克 誤碼率測試儀BSX320應用
- 設計驗證，包括信號完整性、抖動和時序分析
- 測試高速串行系統(tǒng)、復雜設計的性能
- 設計/驗證高速 I/O 組件和系統(tǒng)，包括 DUT 握手
- 信號完整性分析 – 模板測試、峰值抖動、BER輪廓、抖動分離及定位（Jitter Map)和前向糾錯仿真
| 型號 | 通道 | 最大數(shù)據(jù)速率 | 排序器狀態(tài)/電平 |
|---|---|---|---|
| BSX240 | 1 | 24 Gb/s | 128/2 |
| BSX320 | 1 | 32 Gb/s | 128/2 |
| BSX125 | 1 | 12.5 Gb/s |
128/2 |
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