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匯能HN1600DX/B 電路測試儀

名稱:電路板PCB測試儀

品牌:

型號:

簡介:匯能HN1600DX/B是一款高性能的線路板測試儀(已停產(chǎn)),支持WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng),使用主流USB通信接口,匯能HN2600DX/C可以實現(xiàn)數(shù)字邏輯性能直流參數(shù)測試,數(shù)字邏輯器件在線與離線功能測試,...

  • 產(chǎn)品介紹

匯能HN1600DX/B是一款高性能的線路板測試儀,支持WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng),使用主流USB通信接口,匯能HN2600DX/B可以實現(xiàn)數(shù)字邏輯性能直流參數(shù)測試,數(shù)字邏輯器件在線與離線功能測試,模擬特征分析,多通道VI曲線分析比較測試等等。

一、主要技術(shù)指標:
    1.操作系統(tǒng):支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
    2.通訊接口:主流的USB接口。
    3.?dāng)?shù)字測試通道: 40通道。
    4.?dāng)?shù)字通道電平范圍:5V邏輯電平通道。
    5.模擬測試通道: 80路(雙屬性通道)。
    6.總線隔離專用數(shù)字通道: 8通道。
    7.后驅(qū)動電流: ≥200 mA。
    8.?dāng)?shù)字通道測試速度: (1~45 Ktv/S)8檔可選。
    9.在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 11種。
    10.?dāng)?shù)字器件的閾值電平: TTL、CMOS5 緊/松調(diào)節(jié);自定義調(diào)節(jié)。
    11.程控外供電源(自動控制、自保護功能): 5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。
    12.電源加電延遲時間:(0.5~7)秒 6檔可選。
    13.測試探棒: 2組8個測試口。
    14.模擬信號掃描電壓幅度: ±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào)。
    15.VI分辨率: 8~128點/周期。
    16.輸出阻抗匹配: 100Ω / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選。
    17.模擬通道最大測試頻率: 1KHZ。
    18.脈沖發(fā)生器脈沖幅度: ±1V~±28V。
    19.電路板網(wǎng)絡(luò)測試通/斷閾值: 25Ω±5Ω。
    20.腳踏開關(guān):支持。
    21.參數(shù)測試模塊:支持。

    二、 主要測試功能:
    1. 數(shù)字邏輯器件性能(直流參數(shù))測試:
    維修實踐發(fā)現(xiàn),有些器件的原有功能尚能實現(xiàn),但參數(shù)卻發(fā)生了變化,元件性能表現(xiàn)的很不穩(wěn)定,設(shè)備或電
路板仍然不能正常工作,為此天惠公司開發(fā)了針對集成電路直流參數(shù)的測試功能,支持對數(shù)字集成電路的輸入漏
電流和輸出驅(qū)動電流等直流參數(shù)測試。如輸入漏電流(Iih,IiL,Vih,ViL);輸出驅(qū)動電流(IOL,IOh,VOL,
VOh)。
    2. 數(shù)字邏輯器件在/離線功能測試:
    能夠?qū)Χ噙壿嬰娖綌?shù)字邏輯器件進行在線/離線功能測試;測試器件庫龐大,僅邏輯數(shù)字器件就1 萬多種;
測試范圍廣:TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、俄羅斯器件、西門子器件庫。
    3.ASA(VI)模擬特征分析測試:
    ASA測試通過比較好電路板和故障電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測故障,可把故障定位到電路結(jié)
點。ASA測試不涉及器件功能,無論何種元器件,模擬的、數(shù)字的、功能已知的、功能未知的都能檢測;ASA測試
是逐管腳進行的,基本上不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進行測試。 ASA測試無需給電路板加電,
使用較為安全。
    4.單/多端口VI曲線分析比較測試:
    對器件采取單端口或多端口的VI曲線測試方式;單端口測試方式是指每個管腳對地提取一遍阻抗特性曲線,
而多端口是以任一腳做參考提取一遍VI曲線。
    5.ASA 曲線雙棒動態(tài)比較測試:
    使用雙路探棒對兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點時時的進行動態(tài)比較測試;當(dāng)被測板上的器件不能使用測試夾
測試時,此種方法最有效。
    6.ASA 曲線測試智能提醒功能:
    當(dāng)使用雙探棒進行比較測試時,如果超差,儀器會出現(xiàn)報警聲音,引起使用者注意,該測試方法利用微機喇
叭產(chǎn)生類似于萬用表Beep的效果,提高了檢測效率,也大大降低了勞動強度。
    7.ASA 測試曲線靈敏度可調(diào):
    當(dāng)ASA曲線走勢趨向于45度時,如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化,曲線就變化明顯,反映故障的觀察靈敏度就越精
確,曲線反映故障靈敏度與測試參數(shù)相關(guān),適當(dāng)調(diào)整測試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線;該測試方法能夠自動搜索
出對故障較靈敏的那根曲線,有效的提高了故障檢出率。
    8.可按管腳設(shè)置ASA 曲線測試參數(shù):
    可根據(jù)具體器件的測試需要,給不同管腳設(shè)置不同的測試參數(shù),可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線;
大大提高了測試的靈活性。
    9.ASA 曲線故障快速定位/查找功能:
    當(dāng)VI測試出現(xiàn)故障曲線時,測試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項,使用戶觀察曲線更方便、直觀。
    10. 對不穩(wěn)定疑難曲線有效識別:
    增強了對不穩(wěn)定疑難曲線有效識別的判斷水平,降低了誤判率,進一步提高了測試準確度。
    11. VI曲線參數(shù)值量化功能:
    即從被測電路或器件的ASA曲線中可以獲取相應(yīng)的參數(shù)測試值并保存,且能夠用寫字板或OFFICE工具軟件直
接進行編輯或瀏覽。
    12. 求取平均曲線的測試功能:
    用戶可以先測試多個器件,得到多個曲線文件,然后利用該功能把多個曲線文件平均成一個曲線文件,作為以
后的測試比較標準。
    13.VI曲線雙板直接對比測試:
    使用雙路測試夾對兩塊相同電路板(一塊好板和一塊壞板)上的相應(yīng)IC同時進行VI曲線提取、存儲和比較
測試,測試效率極高。
    14.三端器件測試:
    完成對三端分立元件的動態(tài)測試功能,如三極管、可控硅、場效應(yīng)管、繼電器等元件測試。
    15.ASA 曲線多種排列/顯示方式:
    可按比較誤差降序排列顯示曲線,比較誤差升序排列顯示曲線,還可按器件管腳順序排列曲線;可以“按點
”或“畫線”來顯示曲線,單個管腳的曲線可以單獨放大或縮小。
    16.電容、電感定量測試:
    可直接在離線狀態(tài)下準確測試電容的容量及漏電阻,并展現(xiàn)出電容在充放電過程中不同的阻值的過程;能夠
測試出電感的電感量及串聯(lián)電阻;
    17. 電路板圖象建庫測試:
    通過數(shù)碼相機或掃描儀將一塊好的電路板輸入到計算機內(nèi),在屏幕上就可以對該板上各個集成電路芯片進行
編號,以便讓儀器知曉器件所在位置,然后即可對每一個器件同時進行邏輯功能在線測試及VI曲線掃描測試,從而
建立起整板的測試庫,當(dāng)需要維修時,只需將該板從計算機軟件內(nèi)調(diào)出,就可以直接對其進行故障診斷,適用于批量
電路板的維修。
    18.?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測試:
    能夠提取11種復(fù)雜的電路在線狀態(tài),如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號、非法電平、總線競爭等等狀態(tài),對測試器件外
電路的識別能力強。
    19.總線競爭信號隔離功能:
    用于解除總線競爭,確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373、74LS245、等),可提供8路總線競
爭隔離信號。
    20.IC型號識別:
    針對標識不清或被擦除型號的器件,可“在線”或“離線”進行型號識別測試。
    21. LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試:
    可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進行功能及狀態(tài)分析測試。
    22.讀寫存儲器功能測試:
    直接檢測存儲器SRAM / DRAM芯片的好壞,該測試無需事先學(xué)習(xí),有獨立的測試器件庫,可采用在線、離線
測試方式。
    23.只讀存儲器功能測試:
    可采取在線(離線)學(xué)習(xí)/比較的測試方法,先把好板上EPROM中的程序讀出來,保存到計算機上,再和壞
板上的相同器件中的程序進行比較測試;測試結(jié)果定位到存儲單元地址上,并打印出該地址正確和錯誤的代碼。
    24.元器件循環(huán)測試功能:
    該功能可對數(shù)字邏輯器件、集成運放、光耦等器件進行重復(fù)測試,直到出現(xiàn)錯誤或被終止,易于發(fā)現(xiàn)一些器
件的非固定性故障(或稱為軟故障)。
    25.?dāng)?shù)字邏輯器件測試閾值可調(diào)功能:
    閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外,還
可選自定義。通過調(diào)整器件的閾值電平,能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動能力下降導(dǎo)致的電路故障。
    26.加電延遲可選功能:
    當(dāng)遇到被測電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時可用到此功能。該選項是確定在測試儀接通外供電源
以后,需要等待多長時間后才開始進行測試。
    27.測試夾接觸檢查功能:
    主要解決當(dāng)測試夾與被測器件接觸不良(如被測器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等)時,造成的測試
誤判。
    28.運算放大器在線功能測試:
    使用模擬信號測試運放在線性放大區(qū)的工作特性,測試技術(shù)或國家發(fā)明專利,有獨立的測試器件庫,包含
LM324、LM348等共計3000多種。
    29. 電壓比較器測試:
    模擬電壓比較器用于判斷兩個信號的微小差異,通過本測試儀可以很容易測試。
    30.光電耦合器在線功能測試:
    由于光耦是電流控制器件,采用電流激勵信號測試,方法科學(xué)嚴謹,準確度高;有獨立的光耦測試器件庫,
達500多種。
    31.光電耦合器離線直流參數(shù)測試:
    可在離線情況下對光耦的主要直流參數(shù)(如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等)進行測試,解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)
現(xiàn)的故障現(xiàn)象,提高了故障檢出率;
    32.UDT自定義測試平臺:
    把測試儀的測試通道開放給用戶,由用戶對被測元件或電路的輸入施加激勵信號,然后從輸出采集響應(yīng)信號
,類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測試方法。
    33. UDT下AD、DA類器件功能測試:
    用戶通過UDT控制匯能測試儀,向被測試器件(AD/DA)或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵信號,從輸出取
回相應(yīng)的響應(yīng)信號,通過比較相同激勵信號下,器件/電路的實測響應(yīng)信號與預(yù)期(標準)響應(yīng)信號的符合程度
,實現(xiàn)故障檢測。
    34. AFT電路故障追蹤:
    AFT可以看成“信號發(fā)生器+示波器”測試方式的直接擴充。本測試儀上能夠設(shè)置多種測試信號,并且能把
測試信號以及好板電路對測試信號的響應(yīng),關(guān)聯(lián)在一起存放在計算機中——建立用戶自己的電路板測試庫,用于
對故障板的測試;也可以把同樣的測試信號同時加在好、壞板的電路上,直接對照兩者的輸出結(jié)果。
    35.電路板網(wǎng)絡(luò)測試:
    使用模擬信號提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系,測試時無須加電,通/斷閾值設(shè)置明確。能
夠支持對用戶的標準Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開路、短路測試變的更加方便和快捷。
    36. 晶體管輸出特性曲線測試:
    可以測出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小
,以及均勻程度,直觀看到晶體管的三個區(qū):截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況。可用于晶體管的篩選,尤
其在晶體管配對時特別有用。
    37.填表方式擴充模擬器件庫:
    以填表的方式定義模擬器件的各個管腳狀態(tài):如:正輸入腳、負輸入腳、輸出腳、正電源腳、負電源腳、接
地腳,以及其他狀態(tài)等。
    38.以編程方式擴充數(shù)字器件庫:
    采用HNDDL語言,自適應(yīng)技術(shù)完善;把擴充程序直接開放給用戶,由用戶自己可以自行填加測試器件庫。
    39.元器件速查手冊(電子詞典):
    元件庫容量近四萬種,供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
    40.維修日記:
    供記錄日常維修的經(jīng)驗體會,發(fā)生的重要事情等,長期保存這些資料并積累經(jīng)驗,會大大提高維修水平和技
能。
    41.后臺操作記錄:
    測試儀會自動記錄測試過程及測試結(jié)果等信息。

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