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匯能HN1600/4840電路測(cè)試儀

名稱:電路板PCB測(cè)試儀

品牌:

型號(hào):

簡介:匯能HN1600/4840是一款高性能的線路板測(cè)試儀,支持WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng),使用主流USB通信接口,匯能HN1600/4840可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字邏輯性能直流參數(shù)測(cè)試,數(shù)字邏輯器件在線與離線功能測(cè)試,模擬特...

  • 產(chǎn)品介紹

匯能HN1600/4840是一款高性能的線路板測(cè)試儀,支持WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng),使用主流USB通信接口,匯能HN1600/4840可以實(shí)現(xiàn)數(shù)字邏輯性能直流參數(shù)測(cè)試,數(shù)字邏輯器件在線與離線功能測(cè)試,模擬特征分析,多通道VI曲線分析比較測(cè)試等等。

 

 一、主要技術(shù)指標(biāo):
    1.操作系統(tǒng):支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
    2.通訊接口:主流的USB接口。
    3.?dāng)?shù)字測(cè)試通道: 40通道。
    4.?dāng)?shù)字通道電平范圍:5V邏輯電平通道。
    5.模擬測(cè)試通道: 40路(單屬性通道)。
    6.總線隔離專用數(shù)字通道: 8通道。
    7.后驅(qū)動(dòng)電流: ≥200 mA。
    8.?dāng)?shù)字通道測(cè)試速度: (1~45 Ktv/S)8檔可選。
    9.在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 11種。
    10.?dāng)?shù)字器件的閾值電平: TTL、CMOS5 緊/松調(diào)節(jié);自定義調(diào)節(jié)。
    11.程控外供電源(自動(dòng)控制、自保護(hù)功能): 5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。
    12.電源加電延遲時(shí)間:(0.5~7)秒 6檔可選。
    13.測(cè)試探棒: 2組8個(gè)測(cè)試口。
    14.模擬信號(hào)掃描電壓幅度: ±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào)。
    15.VI分辨率: 8~128點(diǎn)/周期。
    16.輸出阻抗匹配: 100Ω / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選。
    17.模擬通道最大測(cè)試頻率: 1KHZ。
    18.脈沖發(fā)生器脈沖幅度: ±1V~±28V。
    19.電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值: 25Ω±10Ω。
    20.腳踏開關(guān):支持。

    二、 主要測(cè)試功能:
    1. 數(shù)字邏輯器件在/離線功能測(cè)試:
    能夠?qū)Χ噙壿嬰娖綌?shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試;測(cè)試器件庫:TTL54/74系列、8000系列、9000系
列、CMOS4000系列、俄羅斯器件、西門子器件庫。
    2.ASA(VI)模擬特征分析測(cè)試:
    ASA測(cè)試通過比較好電路板和故障電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測(cè)故障,可把故障定位到電路結(jié)
點(diǎn)。ASA測(cè)試不涉及器件功能,無論何種元器件,模擬的、數(shù)字的、功能已知的、功能未知的都能檢測(cè);ASA測(cè)試
是逐管腳進(jìn)行的,基本上不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測(cè)試。 ASA測(cè)試無需給電路板加電,
使用較為安全。
    3.VI曲線分析比較測(cè)試:
    對(duì)器件只能采取單端口VI曲線測(cè)試方式;單端口測(cè)試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地提取一遍阻抗特性曲線,
    4.ASA 曲線雙棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試:
    使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測(cè)試;當(dāng)被測(cè)板上的器件不能使用測(cè)試夾
測(cè)試時(shí),此種方法最有效。
    5.ASA 曲線測(cè)試智能提醒功能:
    當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測(cè)試時(shí),如果超差,儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音,引起使用者注意,該測(cè)試方法利用微機(jī)喇
叭產(chǎn)生類似于萬用表Beep的效果,提高了檢測(cè)效率,也大大降低了勞動(dòng)強(qiáng)度。
    6.ASA 測(cè)試曲線靈敏度可調(diào):
    當(dāng)ASA曲線走勢(shì)趨向于45度時(shí),如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化,曲線就變化明顯,反映故障的觀察靈敏度就越精
確,曲線反映故障靈敏度與測(cè)試參數(shù)相關(guān),適當(dāng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線;該測(cè)試方法能夠自動(dòng)搜索
出對(duì)故障較靈敏的那根曲線,有效的提高了故障檢出率。
    7.可按管腳設(shè)置ASA 曲線測(cè)試參數(shù):
    可根據(jù)具體器件的測(cè)試需要,給不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù),可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線;
大大提高了測(cè)試的靈活性。
    8.ASA 曲線故障快速定位/查找功能:
    當(dāng)VI測(cè)試出現(xiàn)故障曲線時(shí),測(cè)試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項(xiàng),使用戶觀察曲線更方便、直觀。
    9. 對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別:
    增強(qiáng)了對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別的判斷水平,降低了誤判率,進(jìn)一步提高了測(cè)試準(zhǔn)確度。
    10. VI曲線參數(shù)值量化功能:
    即從被測(cè)電路或器件的ASA曲線中可以獲取相應(yīng)的參數(shù)測(cè)試值并保存,且能夠用寫字板或OFFICE工具軟件直
接進(jìn)行編輯或?yàn)g覽。
    11. 求取平均曲線的測(cè)試功能:
    用戶可以先測(cè)試多個(gè)器件,得到多個(gè)曲線文件,然后利用該功能把多個(gè)曲線文件平均成一個(gè)曲線文件,作為以
后的測(cè)試比較標(biāo)準(zhǔn)。
    12.VI曲線雙板直接對(duì)比測(cè)試:
    使用雙路測(cè)試夾對(duì)兩塊相同電路板(一塊好板和一塊壞板)上的相應(yīng)IC同時(shí)進(jìn)行VI曲線提取、存儲(chǔ)和比較
測(cè)試,測(cè)試效率極高。
    13.三端器件測(cè)試:
    完成對(duì)三端分立元件的動(dòng)態(tài)測(cè)試功能,如三極管、可控硅、場效應(yīng)管、繼電器等元件測(cè)試。
    14.ASA 曲線多種排列/顯示方式:
    可按比較誤差降序排列顯示曲線,比較誤差升序排列顯示曲線,還可按器件管腳順序排列曲線;可以“按點(diǎn)
”或“畫線”來顯示曲線,單個(gè)管腳的曲線可以單獨(dú)放大或縮小。
    15.電容、電感定量測(cè)試:
    可直接在離線狀態(tài)下準(zhǔn)確測(cè)試電容的容量及漏電阻,并展現(xiàn)出電容在充放電過程中不同的阻值的過程;能夠
測(cè)試出電感的電感量及串聯(lián)電阻;
    16. 電路板圖象建庫測(cè)試:
    通過數(shù)碼相機(jī)或掃描儀將一塊好的電路板輸入到計(jì)算機(jī)內(nèi),在屏幕上就可以對(duì)該板上各個(gè)集成電路芯片進(jìn)行
編號(hào),以便讓儀器知曉器件所在位置,然后即可對(duì)每一個(gè)器件同時(shí)進(jìn)行邏輯功能在線測(cè)試及VI曲線掃描測(cè)試,從而
建立起整板的測(cè)試庫,當(dāng)需要維修時(shí),只需將該板從計(jì)算機(jī)軟件內(nèi)調(diào)出,就可以直接對(duì)其進(jìn)行故障診斷,適用于批量
電路板的維修。
    17.?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測(cè)試:
    能夠提取11種復(fù)雜的電路在線狀態(tài),如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線競爭等等狀態(tài),對(duì)測(cè)試器件外
電路的識(shí)別能力強(qiáng)。
    18.總線競爭信號(hào)隔離功能:
    用于解除總線競爭,確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373、74LS245、等),可提供8路總線競
爭隔離信號(hào)。
    19.IC型號(hào)識(shí)別:
    針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件,可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。
    20. LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試:
    可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。
    21.讀寫存儲(chǔ)器功能測(cè)試:
    直接檢測(cè)存儲(chǔ)器SRAM / DRAM芯片的好壞,該測(cè)試無需事先學(xué)習(xí),有獨(dú)立的測(cè)試器件庫,可采用在線、離線
測(cè)試方式。
    22.只讀存儲(chǔ)器功能測(cè)試:
    可采取在線(離線)學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法,先把好板上EPROM中的程序讀出來,保存到計(jì)算機(jī)上,再和壞
板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試;測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上,并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。
    23.元器件循環(huán)測(cè)試功能:
    該功能可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試,直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止,易于發(fā)現(xiàn)一些器
件的非固定性故障(或稱為軟故障)。
    24.?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)功能:
    閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外,還
可選自定義。通過調(diào)整器件的閾值電平,能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。
    25.加電延遲可選功能:
    當(dāng)遇到被測(cè)電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此功能。該選項(xiàng)是確定在測(cè)試儀接通外供電源
以后,需要等待多長時(shí)間后才開始進(jìn)行測(cè)試。
    26.測(cè)試夾接觸檢查功能:
    主要解決當(dāng)測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不良(如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等)時(shí),造成的測(cè)試
誤判。
    27.運(yùn)算放大器在線功能測(cè)試:
    使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性,測(cè)試技術(shù)或國家發(fā)明專利,有獨(dú)立的測(cè)試器件庫,包含
LM324、LM348等共計(jì)3000多種。測(cè)試工具僅支持探棒。
    28. 電壓比較器測(cè)試:
    模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號(hào)的微小差異,通過本測(cè)試儀可以測(cè)試。
    29.光電耦合器在線功能測(cè)試:
    由于光耦是電流控制器件,采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試,方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn),準(zhǔn)確度高;有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫,
達(dá)500多種。測(cè)試工具僅支持探棒。
    30.光電耦合器離線直流參數(shù)測(cè)試:
    可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)(如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等)進(jìn)行測(cè)試,解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)
現(xiàn)的故障現(xiàn)象,提高了故障檢出率;測(cè)試工具僅支持探棒。
    31.UDT自定義測(cè)試平臺(tái):
    把測(cè)試儀的測(cè)試通道開放給用戶,由用戶對(duì)被測(cè)元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào),然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào)
,類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測(cè)試方法。
    32. UDT下AD、DA類器件功能測(cè)試:
    用戶通過UDT控制匯能測(cè)試儀,向被測(cè)試器件(AD/DA)或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵(lì)信號(hào),從輸出取
回相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào),通過比較相同激勵(lì)信號(hào)下,器件/電路的實(shí)測(cè)響應(yīng)信號(hào)與預(yù)期(標(biāo)準(zhǔn))響應(yīng)信號(hào)的符合程度
,實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)。
    33. AFT電路故障追蹤:
    AFT可以看成“信號(hào)發(fā)生器+示波器”測(cè)試方式的直接擴(kuò)充。本測(cè)試儀上能夠設(shè)置多種測(cè)試信號(hào),并且能把
測(cè)試信號(hào)以及好板電路對(duì)測(cè)試信號(hào)的響應(yīng),關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中——建立用戶自己的電路板測(cè)試庫,用于
對(duì)故障板的測(cè)試;也可以把同樣的測(cè)試信號(hào)同時(shí)加在好、壞板的電路上,直接對(duì)照兩者的輸出結(jié)果。
    34.電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試:
    使用模擬信號(hào)提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系,測(cè)試時(shí)無須加電,通/斷閾值設(shè)置明確。能
夠支持對(duì)用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開路、短路測(cè)試變的更加方便和快捷。
    35.填表方式擴(kuò)充模擬器件庫:
    以填表的方式定義模擬器件的各個(gè)管腳狀態(tài):如:正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接
地腳,以及其他狀態(tài)等。
    36.以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫:
    采用HNDDL語言,自適應(yīng)技術(shù)完善;把擴(kuò)充程序直接開放給用戶,由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫。
    37.元器件速查手冊(cè)(電子詞典):
    元件庫容量近四萬種,供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
    38.維修日記:
    供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì),發(fā)生的重要事情等,長期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn),會(huì)大大提高維修水平和技
能。
    39.后臺(tái)操作記錄:
    測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過程及測(cè)試結(jié)果等信息。
 

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