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匯能CFTsysIII便攜式一體機
名稱：電路板PCB測試儀
品牌：
型號：
簡介：匯能CFTsysIII便攜式一體機是一款 集電腦、電路在線維修測試儀、數(shù)字存儲示波器、頻譜分析儀于一體，可以實現(xiàn)綜合作業(yè)，也可各自獨立使用，用戶無需外接電腦，極大提高了用戶使用的方便性，尤其深受部隊用戶的喜愛。匯能便攜式一體機的問世，是國內(nèi)...
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- 產(chǎn)品介紹
匯能CFTsysIII便攜式一體機是一款 集電腦、電路在線維修測試儀、數(shù)字存儲示波器、頻譜分析儀于一體，可以實現(xiàn)綜合作業(yè)，也可各自獨立使用，用戶無需外接電腦，極大提高了用戶使用的方便性，尤其深受部隊用戶的喜愛。匯能便攜式一體機的問世，是國內(nèi)在線維修測試儀設(shè)計水平的最高體現(xiàn)。
一、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)說明：
采用標(biāo)準(zhǔn)的便攜式一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計方案，集電腦、電路在線維修測試儀、數(shù)字存儲示波器、頻譜分析儀于一體，可以實現(xiàn)綜合作業(yè)，也可各自獨立使用，用戶無需外接電腦，極大提高了用戶使用的方便性，尤其深受部隊用戶的喜愛。匯能便攜式一體機的問世，是國內(nèi)在線維修測試儀設(shè)計水平的最高體現(xiàn)。
二、產(chǎn)品規(guī)格：
尺寸
420(L)* 230 (w)*280 (H)mm
凈重
15kg
三、基本配置參數(shù)：
筆記本電腦：
CPU主頻：1000MHZ
內(nèi)存：128M
硬盤：40G
光驅(qū)：CD-R 48X
顯示屏：15LCD
存儲示波器：
并行雙通道+ 外觸發(fā)
模擬帶寬：20MHZ
最大采樣速率：60MHZ/CH
存儲深度：4000點/CH
預(yù)觸發(fā)長度：256、512、1024點
四、環(huán)境要求：
溫度：0℃——40℃
相對濕度：20%——80%
電源：單相220V ±10%，50HZ
五、主要技術(shù)指標(biāo)：
1、 測試儀內(nèi)置高性能CPU控制電路:
a．單片機：16位（XA系列）
b．RAM：64KB
c．EPROM：16KB
d．并口：CENTRONICS標(biāo)準(zhǔn)
避免了WINDOWS的分時特性給測試帶來的影響,保證了測試儀的動態(tài)測試指標(biāo),測試信號更穩(wěn)定更可靠；
1、 數(shù)字測試通道：48通道，支持驅(qū)動閾值電平5V；
2、 集成運放測試支持電源電壓：≤±28V；
3、 總線隔離專用數(shù)字通道：8通道，用來隔離掛在總線上的三態(tài)器件，避免產(chǎn)生總線競爭，干擾測試；
4、 程控外供電源：+5V（自動控制、自保護功能）；
5、 電源電壓及最大輸出電流：5V/4A；
6、 后驅(qū)動電流：>200 mA;
7、 測試器件庫:TTL54/74、CMOS40/45、RAM、EPROM、集成運放、模擬開關(guān)、電壓比較器、光電耦合器、俄羅斯庫、 門 子庫；
8、 數(shù)字器件功能施加測試時間：<26 mS
9、 數(shù)字器件最大測試速度: 45KTV / S;
10、數(shù)字器件在線測試提取器件管腳狀態(tài):11種;
11、模擬測試通道：40通道，探棒2通道；
12、模擬信號掃描電壓幅度：±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào);
13、VI分辨率：8~128點/周期(用示波器可測)；
14、輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可選;
15、SA模擬特征分析測試坐標(biāo): 3種可選(VI /VT /VR);
16、模擬通道最大測試頻率: 16KHZ;
17、ASA(VI)測試頻率匹配:1HZ~16KHZ,共30檔可選;
18、脈沖發(fā)生器脈沖幅度：±1V~±28V;
19、脈沖發(fā)生器發(fā)生方式: 8種
① P1方式：正的直流電平；
② P2方式：負(fù)的直流電平；
③ P1+方式：正脈沖，由0度開始，寬度為N×1/64π；
④ P1-方式：負(fù)脈沖，由π開始，寬度為N×1/64π；
⑤ P2+方式：正脈沖，結(jié)束于π，寬度為N×1/64π；
⑥ P2-方式：負(fù)脈沖，結(jié)束于2π，寬度為N×1/64π；
⑦ P1+與P1-方式：P1+與P1-方式的組合；
⑧ P2+與P2-方式：P2+與P2-方式的組合。
注：寬度中的N≤64，可設(shè)置
20、ASA(VI)曲線分析測試全過程測試時間(以128點/周期40管腳器件單端口掃描為例): <１S；
21、電路板網(wǎng)絡(luò)測試通/斷閾值：25Ω±5Ω
22、雙通道數(shù)字存儲示波器：模擬帶寬20MHZ；
23、最大采樣速率：60MHZ/CH；存儲深度4000點/CH；
六、主要測試功能：
1、 程控電源輸出：
提供+5V測試電源，程控加電，擁有自動保護功能，安全可靠，不用外接測試電源，使用方便；|
2、 機電式繼電器輸出控制：
采用安全可靠的機電式繼電器，與光電式比較，接觸電阻更小，約0.01~0.02Ω，其百萬次量級的使用壽命，幾百毫秒的動作時間足以滿足實際應(yīng)用要求。
3. 數(shù)字邏輯器件在線功能測試：
能夠?qū)?V數(shù)字邏輯器件進行在線功能測試；測試器件庫龐大（僅邏輯數(shù)字器件就1 萬多種）；測試范圍廣：TTL54/74、CMOS40/45、俄羅斯器件庫、西門子器件庫.
4．?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測試：
能夠提取復(fù)雜的電路在線狀態(tài)：11種，如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號、非法電平、總線競爭等等狀態(tài)，所以，對測試器件外電路的識別能力強，低檔測試儀一般只能識別2-3種 。此功能采用學(xué)習(xí)、比較的測試方式；
5． 動態(tài)總線競爭信號隔離功能：
用于解除總線競爭，確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373、74LS245、等），可提供8路總線競爭隔離信號；
6． IC型號識別：
針對標(biāo)識不清或被擦除型號的器件，可“在線”或“離線”進行型號識別測試，測試結(jié)果打印出器件型號；對識別后的器件還可直接進行功能測試加以驗證；
7． 器件“離線”功能測試；
所有庫器件都可進行“離線”功能測試，如：5V數(shù)字邏輯器件、存儲器、集成運放、光電耦合器等器件；
8． LSI大規(guī)模集成電路在線功能測試：
可對：Z80、8255、等器件進行功能測試；
9． LSI大規(guī)模集成電路在線狀態(tài)分析測試；
可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進行狀態(tài)分析測試；
10．SRAM / DRAM讀寫存儲器在線測試；
直接檢測存儲器芯片的好壞，該測試無需事先學(xué)習(xí)，有獨立的測試器件庫，可采用在線、離線測試方式
11．EPROM在線直接讀取/比較測試：
可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計算機上，再和壞板上的相同器件中的程序進行比較測試；測試結(jié)果定位到存儲單元地址上，并打印出該地址正確和錯誤的代碼。
12．器件循環(huán)測試功能：
該功能可對數(shù)字邏輯器件、存儲器、集成運放、光耦等器件進行重復(fù)測試，直到出現(xiàn)錯誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）；
13．測試夾自動定位功能：
該功能可以將測試夾以正、反方向，對齊或不對齊第一腳的方式夾在被測器件上而不影響測試結(jié)果，利于提高測試速度；
14．?dāng)?shù)字邏輯器件在線測試速度可選：
為了保證器件測試的準(zhǔn)確性、降低誤判率，滿足不同器件對測試速度指標(biāo)的不同要求，而設(shè)置了速度可選項；如：對負(fù)載能力弱的CMOS器件應(yīng)選較低速度測試，一些集成度高、編程復(fù)雜的器件必須選擇較高速度測試。
15．?dāng)?shù)字邏輯器件測試閾值可調(diào)功能：
閾值電平是指判定器件輸出是邏緝１或邏輯０的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。 閾值電平的選取要與被測器件的類型相一致；在邏輯器件測試時，有時會遇到用閾值電平緊測試不通過，而用閾值電平松就能通過的現(xiàn)象，一般是器件的部分參數(shù)發(fā)生了變化，如驅(qū)動能力下降；
16．加電延遲可選功能：
被測電路板上的電源、地之間有濾波電容。濾波電容越大，充電時間越長。該選擇是確定在測試儀接通外供電源以后，需要等待多長時間后才開始進行測試。缺省為0.5秒；
17．測試夾接觸檢查功能：
該項功能主要解決當(dāng)測試夾與被測器件接觸不良時，造成的測試誤判，如被測器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等；
18．瞬時復(fù)位電路控制功能：
當(dāng)測試儀突然掉電，又突然上電的情況下，不會造成測試儀內(nèi)部狀態(tài)混亂而帶來安全性問題；
19．集成運放在線功能測試（運放測試技術(shù)獲國家發(fā)明專利）：
使用模擬信號測試運放在線性放大區(qū)的工作特性，有獨立的測試器件庫，包含LM324、LM348等共計3000多種，支持多種封裝形式：如雙列直插、圓形、表面貼等。與把運放作為數(shù)字器件測試相比較，此方法更科學(xué)，結(jié)果更準(zhǔn)確。
20．集成運放在線狀態(tài)測試：
采用學(xué)習(xí)、存儲、比較的測試方式；
21．光電耦合器在線功能測試：
由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵信號測試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，測試結(jié)果準(zhǔn)確；低檔測試儀采用電壓激勵信號測試，會導(dǎo)致測試結(jié)果的準(zhǔn)確性不高。
22、有獨立的光耦測試器件庫，達500多種；
23．光電耦合器離線直流參數(shù)測試：
可在離線情況下對光耦的主要直流參數(shù)進行測試（如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)、輸入開啟電壓、等），解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率；
24．匯能自定義功能測試平臺：
把測試儀的測試通道開放給用戶，由用戶對被測器件自行定義測試代碼，可以進行功能測試，前提是用戶需要對器件工作原理有一定的了解，或有被測器件的使用資料，適合有圖紙資料情況下的開發(fā)工作；
25．電路板網(wǎng)絡(luò)提取/比較測試；
使用模擬信號提取器件之間的連線關(guān)系，測試時無須加電，通/斷閾值設(shè)置明確，測試完成后可以Protel網(wǎng)絡(luò)表形式顯示，適合反演電路圖；
26．填表方式擴充集成運放測試器件庫：
以填表的方式定義運放的各個管腳狀態(tài)：如：同向輸入、反向輸入、輸出、正電源、負(fù)電源、接地腳，以及其他狀態(tài)等
27．以編程方式擴充數(shù)字器件庫：
采用HNDDL語言（天惠電子自主開發(fā)的用于描述邏輯過程的專用語言，擁有自己的版權(quán)），自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴充程序直接開放給用戶，由用戶自己可以自行填加測試器件庫；
28．ASA（VI）模擬特征分析測試：
通過對器件端口進行模擬特征分析測試方式（VI曲線學(xué)習(xí)/比較測試），可以發(fā)現(xiàn)器件端口型的故障（一般能占到維修當(dāng)中的80%左右）適用于數(shù)字器件、模擬器件、模擬數(shù)字混合器件（如AD、DA等），對器件的封裝形式也不受限制，可適應(yīng)于對任何器件的測試；
29．ASA多種觀察坐標(biāo)顯示：
有三種顯示方式：VI/VT/VR，一般用VI坐標(biāo)觀察曲線，有人習(xí)慣上把ASA也叫成VI測試；
30．單端口、多端口（交叉）VI曲線分析測試：
對器件采取單端口或多端口的測試方式；單端口測試方式是指每個管腳對地提取一遍阻抗特性曲線，而多端口是以任一腳做參考提取一遍阻抗特性曲線；
31．ASA 曲線雙探棒動態(tài)比較測試：
使用雙路探棒對兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點時時的進行動態(tài)比較測試；當(dāng)被測板上的器件不能使用測試夾測試時，此種方法最有效；
32、ASA 曲線測試智能提醒功能：
當(dāng)使用雙探棒進行比較測試時，如果不超差，儀器會出現(xiàn)報警聲音，如果超差，則無報警提示，引起使用者注意，該測試方法利用微機喇叭產(chǎn)生類似于萬用表Beep的效果，提高了檢測效率，也大大降低了勞動強度；
33、ASA 測試曲線靈敏度可調(diào)：
當(dāng)ASA曲線走勢趨向于45度時，如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精確，曲線反映故障靈敏度與測試參數(shù)相關(guān)，適當(dāng)調(diào)整測試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線；該測試方法能夠自動搜索出對故障較靈敏的那根曲線，有效的提高了故障檢出率；
34、ASA 曲線掃描電壓可調(diào)：（示波器可測）
VI掃描電壓±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào)。低檔測試儀一般設(shè)定幾檔可選但不可調(diào)；
35、ASA 曲線測試頻率可調(diào)：（示波器可測）
VI測試頻率為1HZ-16KHZ,共30檔可選。低檔測試儀一般為設(shè)定不可調(diào)，或給不出頻率指標(biāo);
36、ASA 曲線測試輸出阻抗可選：
輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ四檔可選：
37、ASA 曲線快速診斷分析測試：
以40管腳VI曲線單端口測試為例，全過程測試時間< 1秒；如果進行40管腳多端口（交叉）掃描測試，128點/周期，全程程測試時間也在10秒之內(nèi)；
38、可按管腳設(shè)置ASA 曲線測試參數(shù)：
可根據(jù)具體器件的測試需要，給不同管腳設(shè)置不同的測試參數(shù)，可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線；大大提高了測試的靈活性；
39、ASA 曲線故障快速定位/查找功能：
當(dāng)VI測試出現(xiàn)故障曲線時，測試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項，使用戶觀察曲線更方便、更快捷、更直觀，測試效率更高；
40、三端器件測試功能：
完成對三端（含輸入/輸出）分立元件的動態(tài)測試功能，如三極管、可控硅、場效應(yīng)管、繼電器等器件測試：
41、三端器件測試時8種觸發(fā)信號可選，以滿足不同器件的控制觸發(fā)要求：
具有一個與掃描信號同步的脈沖發(fā)生器，用于產(chǎn)生觸發(fā)信號。觸發(fā)信號的極性、相位、寬度均可調(diào)，滿足正向、雙向，交、直流等多種觸發(fā)要求；
42、ASA 曲線多種排列/顯示方式：
可按比較誤差降序排列顯示曲線，比較誤差升序排列顯示曲線，還可按器件管腳順序排列曲線；可以“按點”或“畫線”來顯示曲線，單個管腳的曲線可以單獨放大或縮?。?/p>
43、分立元件測試：
可單獨對電路板上的分立元件直接進行VI曲線分析測試：如電阻、電容、電感等，也可以通過學(xué)習(xí)/比較的方式進行測試；
44、可測器件檢索功能：
內(nèi)置強大的搜索引擎，可以對器件庫進行檢索；檢索后可列出器件型號、所在器件庫、管腳數(shù)、封裝和功能描述。
45、雙通道數(shù)字存儲示波器：
46、頻譜分析功能：
47、元器件速查手冊（電子詞典）：
目前容量已達近四萬種，并在不斷地擴充中，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息；
48、元器件手冊整理：
可以快速把身邊的一些器件的資料整理到手冊當(dāng)中，使用起來會更方便；
49、數(shù)據(jù)庫整理功能：
對IC狀態(tài)庫、LSI在線學(xué)習(xí)庫、EPROM離線完全學(xué)習(xí)庫、EPROM在線快速學(xué)習(xí)庫、EPROM在線完全學(xué)習(xí)庫、網(wǎng)絡(luò)測試庫進行整理、刪除、更名等操作；
50、維修日記：
供記錄日常維修的經(jīng)驗體會，發(fā)生的重要事情等，長期保存這些資料并積累經(jīng)驗，會大大提高維修水平和技能；
51、測試信息打印輸出功能：
支持對各種測試界面下的打??；
52、后臺操作記錄管理：
測試儀會自動記錄測試過程及測試結(jié)果等信息；
53、操作幫助指南：
給使用者提供正確的操作方法、步驟；
七、隨機附件清單：
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序號
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名稱 | 規(guī)格 | 廠家 | 數(shù)量 |
| 1 | DIP測試夾 | 8腳 | 美國3M | 2個 |
| 2 | DIP測試夾 | 14腳 | 美國3M | 2個 |
| 3 | DIP測試夾 | 16腳 | 美國3M | 2個 |
| 4 | DIP測試夾 | 20腳 | 美國3M | 2個 |
| 5 | DIP測試夾 | 28腳 | 美國3M | 1個 |
| 6 | DIP測試夾 | 40腳 | 美國3M | 1個 |
| 7 | SOIC測試夾 | 8腳 | 美國Pomona | 1個 |
| 8 | SOIC測試夾 | 14腳 | 美國Pomona | 1個 |
| 9 | SOIC測試夾 | 16腳 | 美國Pomona | 1個 |
| 10 | SOIC測試夾 | 20腳 | 美國Pomona | 1個 |
| 11 | SOIC測試夾 | 24腳 | 美國Pomona | 1個 |
| 12 | SOIC測試夾 | 28腳 | 美國Pomona | 1個 |
| 13 | GUARD電纜 | USB | 天惠 | 1付 |
| 14 | ICFT/VI測試電纜 | 40×1 | 天惠 | 1對 |
| 15 | ICFT/VI測試電纜 | 20×2 | 天惠 | 1對 |
| 16 | VI測試電纜 | 40×1 | 天惠 | 1條 |
| 17 | VI測試電纜 | 20×2 | 天惠 | 1條 |
| 18 | VI測試探棒 | 標(biāo)準(zhǔn) | 1付 | |
| 19 | VI/三端 測試鉤 | 3鉤 | 天惠 | 2付 |
| 20 | 離線測試板 | 天惠 | 1塊 | |
| 21 | 演示板 | 天惠 | 1塊 | |
| 22 | 測試探針 | 天惠 | 2付 | |
| 23 | 220V電源線 | 標(biāo)準(zhǔn) | 1條 | |
| 24 | 測試電源線 | 2芯 | 天惠 | 1付 |
| 25 | 在線測試電源線 | 3芯 | 天惠 | 1付 |
| 26 | 離線測試電源線 | 3芯 | 天惠 | 1付 |
| 27 | 電源線、地線 | 天惠 | 2對 | |
| 28 | 產(chǎn)品合格證 | 天惠 | 1份 | |
| 29 | 產(chǎn)品保修卡 | 天惠 | 1份 | |
| 30 | 《匯能測試儀使用說明書》 | 天惠 | 1套 | |
| 31 | 《學(xué)習(xí)與實踐》 | 天惠 | 1本
|
