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法國Tem邊界掃描測試儀
名稱：電路板PCB測試儀
品牌：
型號：
簡介：法國Tem邊界掃描測試儀針對電路板的這四個(gè)階段，或者說這四個(gè)不同的部門，提供了適應(yīng)其各自特點(diǎn)的工作平臺。 ENG平臺 針對電路板的實(shí)驗(yàn)調(diào)試階段或部門的應(yīng)用； IND平臺 針對制定測試工藝和編制測試程序階段或部門的應(yīng)用； PRO平臺 針對生產(chǎn)...
- 產(chǎn)品介紹
法國Tem邊界掃描測試儀針對電路板的這四個(gè)階段，或者說這四個(gè)不同的部門，提供了適應(yīng)其各自特點(diǎn)的工作平臺。
ENG平臺 針對電路板的實(shí)驗(yàn)調(diào)試階段或部門的應(yīng)用；
IND平臺 針對制定測試工藝和編制測試程序階段或部門的應(yīng)用；
PRO平臺 針對生產(chǎn)制造階段或部門的實(shí)際測試應(yīng)用；（需要IND的編程支持）
REP 平臺 針對維修階段或部門的故障診斷修理應(yīng)用；（需要IND的編程支持）
這四個(gè)系列的產(chǎn)品每個(gè)都分為三個(gè)級別：
C級是基本級，支持1-3個(gè)TAP端口；
E級是擴(kuò)展級，支持1-6個(gè)TAP端口；
P級是完整級，支持1-無限個(gè)TAP端口
IND-P 是功能最全，級別最高的產(chǎn)品。
法國Tem邊界掃描測試儀必選的選件：
TEM1 JTAG 控制器，具備1個(gè)TAP 接口，帶一條電纜
TEM4 JTAG 控制器，具備4個(gè)TAP 接口，帶一條電纜
（以上兩個(gè)要選一項(xiàng)）
CAB 電纜
法國Tem邊界掃描測試儀其他選件：
ISP Flash 板上編程軟件
PCB PCB 圖像軟件
IO320 320點(diǎn)I/O接插件擴(kuò)展
IO60 60點(diǎn)I/O接插件擴(kuò)展
法國Tem邊界掃描測試儀使工程師可以利用JTAG標(biāo)準(zhǔn)下的邊界掃描全部功能，確認(rèn)調(diào)試和測試電路板。這個(gè)平臺包含了所有的功能：定義測試對象，檢查BSDL，檢查掃描鏈路，執(zhí)行互連測試，用TCL生成功能測試，對信號和網(wǎng)點(diǎn)做診斷，所有工作不超過2天就可以完成。一個(gè)重要的好處是，可以在設(shè)計(jì)調(diào)試階段分析測試覆蓋率和可測試性，利用網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航可以方便的調(diào)整設(shè)計(jì)以提高可測試性和測試覆蓋率，使DFT進(jìn)一步優(yōu)化。
使您的工作很靈活，多功能，易擴(kuò)展，更快速！
法國Tem邊界掃描測試儀設(shè)計(jì)調(diào)試平臺技術(shù)要點(diǎn)
測試覆蓋率和可測試性分析
BSDL器件檢查
基本結(jié)構(gòu)檢查（掃描鏈路完整性檢查）
面向互連，區(qū)間，存儲器的ATPG自動測試程序發(fā)生器
交互性調(diào)試
支持90種以上網(wǎng)絡(luò)表格式
使用TCL語言開發(fā)用戶測試程序
用波形圖或狀態(tài)表顯示結(jié)果
交互式故障診斷電路板或器件
交互式控制和觀察寄存器，總線，引腳上的數(shù)字信號
對FLASH和PLD板上編程
SVF文件格式輸出
PCI和USB接口控制器
法國Tem邊界掃描測試儀設(shè)計(jì)調(diào)試平臺包括軟件模塊
系統(tǒng)構(gòu)建 ：定義元器件，區(qū)域，板，系統(tǒng)，網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)入
工具箱 ：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號
BSDL檢查 ：檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范
交互式調(diào)試 ：隔離故障，便于調(diào)試診斷
ATPG1基礎(chǔ) ：檢查掃描鏈路，與設(shè)計(jì)性能保持一致
ATPG2互連 ：自動測試可測試引腳之間的互連
ATPG3存儲區(qū)域 ：自動測試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH,
SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連
測試擴(kuò)展 ：TCL測試擴(kuò)展用于測試用戶自定義的其他進(jìn)一步測試
程序裝載 ：可以在調(diào)試和測試同時(shí)對FPGA和CPLD裝載程序
Flash編程（option） ：可以對任何形式的Flash存儲器編程
網(wǎng)表合并（option） ：自動生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)表，針對拼板測試生成
網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航 ：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，
可以按名字，引腳，單元搜索
Run time生成 ：輸出所有的數(shù)據(jù)庫到其他的相關(guān)平臺
API 服務(wù)器（option） ：可以提供應(yīng)用程序接口，以和用戶使用的通用軟件平臺例如
Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測試一體化
法國Tem邊界掃描測試儀IND編程測試平臺 針對制定測試工藝和編制測試程序階段或部門的應(yīng)用；
本平臺自己可以執(zhí)行完整的測試，還將測試準(zhǔn)備好，完整的提交給下一個(gè)生產(chǎn)測試平臺，使得生產(chǎn)測試平臺可以簡便完整的運(yùn)行測試。
法國Tem邊界掃描測試儀編程測試平臺技術(shù)要點(diǎn)
測試覆蓋率和可測試性分析
BSDL器件檢查
基本結(jié)構(gòu)檢查（掃描鏈路完整性檢查）
面向互連，區(qū)間，存儲器的ATPG自動測試程序發(fā)生器
交互性調(diào)試
支持90種以上網(wǎng)絡(luò)表格式
使用TCL語言開發(fā)用戶測試程序
用波形圖或狀態(tài)表顯示結(jié)果
交互式故障診斷電路板或器件
交互式控制和觀察寄存器，總線，引腳上的數(shù)字信號
對FLASH和PLD板上編程
SVF文件格式輸出
PCI和USB接口控制器
組織管理測試數(shù)據(jù)根據(jù)實(shí)際需要
運(yùn)行完整的測試程序
調(diào)整或簡化測試方案
輸出測試程序給生產(chǎn)平臺
法國Tem邊界掃描測試儀編程測試平臺包括軟件模塊
系統(tǒng)構(gòu)建 ：定義元器件，區(qū)域，板，系統(tǒng)，網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)入
工具箱 ：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號
BSDL檢查 ：檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范
交互式調(diào)試 ：隔離故障，便于調(diào)試診斷
ATPG1基礎(chǔ) ：檢查掃描鏈路，與設(shè)計(jì)性能保持一致
ATPG2互連 ：自動測試可測試引腳之間的互連
ATPG3存儲區(qū)域 ：自動測試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH,
SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連
測試擴(kuò)展 ：TCL測試擴(kuò)展用于測試用戶自定義的其他進(jìn)一步測試
程序裝載 ：可以在調(diào)試和測試同時(shí)對FPGA和CPLD裝載程序
Flash編程（option） ：可以對任何形式的Flash存儲器編程
網(wǎng)表合并（option） ：自動生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)表，針對拼板測試生成
網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航 ：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，
可以按名字，引腳，單元搜索
Run time生成 ：輸出所有的數(shù)據(jù)庫到其他的相關(guān)平臺
API 服務(wù)器（option） ：可以提供應(yīng)用程序接口，以和用戶使用的通用軟件平臺例如
Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測試一體化
測試管理 ：根據(jù)需要選擇調(diào)整測試方案策略
測試報(bào)告編輯 ：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式
生產(chǎn)測試準(zhǔn)備 ：本平臺自己可以執(zhí)行完整的測試，
還將測試準(zhǔn)備好，完整的提交給下一個(gè)生產(chǎn)測試平臺，使得生產(chǎn)測試平臺可以簡便完整的運(yùn)行測試。
法國Tem邊界掃描測試儀PRO生產(chǎn)測試平臺 針對生產(chǎn)制造階段或部門的實(shí)際測試應(yīng)用；
法國Tem邊界掃描測試儀使測試成為很簡便的一鍵式操作，只需選擇測試編程平臺傳遞下來的測試程序。管理員可以選擇測試順序和測試程序。
生產(chǎn)測試平臺技術(shù)要點(diǎn)
調(diào)入測試編程平臺的程序
執(zhí)行自動測試和板上編程
管理員和操作員分級
打印測試報(bào)告
生產(chǎn)測試平臺包括軟件模塊
程序裝載 ：可以在測試同時(shí)對FPGA和CPLD裝載程序
Flash編程（option） ：可以對任何形式的Flash存儲器編程
測試報(bào)告編輯 ：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式
執(zhí)行生產(chǎn)測試 ：完整的執(zhí)行測試編程平臺傳遞過來的測試任務(wù)。
測試掃描鏈路；
確認(rèn)器件的ID碼
ATPG1，2，3的測試
擴(kuò)展的功能測試
FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載
FLASH編程
條碼讀出 ：對UUT識別方便
操作員面板 ：操作員只需根據(jù)板子類型選擇測試程序，運(yùn)行測試，
讀測試報(bào)告，無需專門培訓(xùn)。
管理員面板 ：管理員在生產(chǎn)測試之前可以調(diào)整測試順序，
確定JTAK連接電纜，信號確認(rèn)
REP 診斷維修平臺 針對維修階段或部門的故障診斷修理應(yīng)用
針對返修的板子，使用本平臺可以方便快速的診斷故障進(jìn)行修理。利用生產(chǎn)平臺傳遞的信息和圖形化的電路圖可以方便的看到故障位置。利用網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航可以把故障定位在網(wǎng)點(diǎn)上。結(jié)合探針可以很快的確定和排除故障。
診斷維修平臺技術(shù)要點(diǎn)
觀看電路圖圖形
圖形上標(biāo)識出故障點(diǎn)
故障點(diǎn)定位
執(zhí)行測試程序
輸出統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)
針對故障診斷需求編寫特殊測試
法國Tem邊界掃描測試儀故障平臺包括軟件模塊
工具箱 ：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號
交互式調(diào)試 ：隔離故障，便于調(diào)試診斷
測試擴(kuò)展 ：TCL測試擴(kuò)展用于測試用戶自定義的其他進(jìn)一步測試
程序裝載 ：可以在調(diào)試和測試同時(shí)對FPGA和CPLD裝載程序
Flash編程（option） ：可以對任何形式的Flash存儲器編程
測試報(bào)告編輯 ：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式
網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航 ：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，
可以按名字，引腳，單元搜索
PCB 視圖（option） ：利用圖形化顯示的電路圖可以方便的看到測試顯示的故障位置
執(zhí)行生產(chǎn)測試 ：完整的執(zhí)行測試編程平臺傳遞過來的測試任務(wù)。
測試掃描鏈路；
確認(rèn)器件的ID碼
ATPG1，2，3的測試
擴(kuò)展的功能測試
FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載
FLASH編程
