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nikon尼康 工業(yè)顯微鏡 LV150N/LV150NL/LV150NA

名稱:物性分析測試儀器

品牌:

型號:

簡介:尼康 工業(yè)顯微鏡 LV150N/LV150NL/LV150NA 工業(yè)顯微鏡 LV150N/LV150NL/LV150NA 新的光學系統(tǒng)令 ECLIPSE煥發(fā)新風采 ECLIPSE 顯微鏡機身采用模塊化制造,可滿足多領域的工業(yè)應用, 其中包括...

  • 產(chǎn)品介紹
尼康 工業(yè)顯微鏡 LV150N/LV150NL/LV150NA

工業(yè)顯微鏡 LV150N/LV150NL/LV150NA

新的光學系統(tǒng)令 ECLIPSE煥發(fā)新風采

ECLIPSE 顯微鏡機身采用模塊化制造,可滿足多領域的工業(yè)應用,其中包括半導體器件、封裝、FPD、電子器件、材料和精密模具制造等。
ECLIPSE LV 系列經(jīng)過不斷的發(fā)展完善并配備了新的光學系統(tǒng)和功能,
可根據(jù)觀察方法和目的 選擇支架裝置和照明裝置以滿足多種觀察需求。
用戶可選擇使用電動和手動操控模式以及反射照明專用模式和反射/透射組合照明
模式以滿足任何應用需求。

CFI60-2 經(jīng)過改進的光學性能
以獨特的高數(shù)值孔徑和長工作距離設計理念而著稱的尼康 CFI60 光學系統(tǒng)

經(jīng)過進一步改進,具有一流 的長工作距離、色差校正性能和更輕的重量。

輕松的操作 與數(shù)碼相機集成

現(xiàn)可使用數(shù)碼控制裝置來檢測包括物鏡信息在內(nèi)的顯微鏡信息,以及對顯微鏡進行電動操作,以更高效地進行觀察和圖像拍攝

觀察方法

可支持多種觀察方法:明場、暗場、偏光、微分干涉、落射熒光和雙光束干涉測量等。

 

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