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牛津儀器 電子背散射衍射（EBSD）探測(cè)器Symmetry S2
名稱：物性分析測(cè)試儀器
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：牛津儀器 電子背散射衍射（EBSD）探測(cè)器Symmetry S2采用專門定制的CMOS傳感器和光纖板光學(xué)系統(tǒng)，集高速、高靈敏度和高衍射花樣質(zhì)量于一體的強(qiáng)大組合。Symmetry S2與AZtec軟件相結(jié)合，為所有材料和所有測(cè)量提供優(yōu)越的性能...
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- 產(chǎn)品介紹
牛津儀器 電子背散射衍射（EBSD）探測(cè)器Symmetry S2采用專門定制的CMOS傳感器和光纖板光學(xué)系統(tǒng)，集高速、高靈敏度和高衍射花樣質(zhì)量于一體的強(qiáng)大組合。Symmetry S2與AZtec軟件相結(jié)合，為所有材料和所有測(cè)量提供優(yōu)越的性能。Symmetry S2的最高分析速度超過4500 pps，可在幾秒鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)織構(gòu)和晶粒度表征，而這是在不需要高束流或犧牲花樣分辨率的條件下實(shí)現(xiàn)的。這意味著，即使對(duì)難做樣品，如多相輕合金或變形鋼，也可以實(shí)現(xiàn)高速及高質(zhì)量的分析。
此外，Symmetry S2可以采集無畸變、百萬像素分辨率的EBSD花樣，用于精細(xì)的應(yīng)變和相分析。軟件控制探頭傾轉(zhuǎn)（自動(dòng)動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)）和接近報(bào)警等創(chuàng)新功能，使Symmetry S2成為一款適合所有應(yīng)用的探測(cè)器。
當(dāng)無需在速度和精度間做選擇時(shí)，全能型Symmetry S2可以輕松滿足所有應(yīng)用需要。
牛津儀器 電子背散射衍射（EBSD）探測(cè)器Symmetry S2特點(diǎn)
Symmetry S2探測(cè)器性能出色，使用方便，是所有EBSD應(yīng)用的理想探測(cè)器：
- 保證標(biāo)定速度 > 4500點(diǎn)/秒（pps）
- 光纖板光學(xué)系統(tǒng)帶來優(yōu)異的靈敏度
- 高靈敏度 > 800 pps/nA
- 最快速度時(shí)花樣分辨率為156 x 88 像素
- 百萬像素全分辨率（1244 x 1024）花樣——理想的高角度分辨率(HR)-EBSD應(yīng)變分析
- 亞像素畸變，保證角度精度優(yōu)于0.05°
- 軟件控制傾轉(zhuǎn)接口，且自動(dòng)校準(zhǔn)——為所有大小的樣品和幾何設(shè)置提供理想的定位和標(biāo)定
- 接近報(bào)警——提前探測(cè)可能發(fā)生的碰撞，并自動(dòng)移動(dòng)探測(cè)器至安全位置
- 五個(gè)集成的前散射探測(cè)器（FSD，選配）, 提供全彩色通道襯度圖像和原子序數(shù)襯度圖像
- 波紋管SEM接口，保持顯微鏡真空的完整性
- 簡(jiǎn)單直觀的探測(cè)器設(shè)置，確保每次都能獲得優(yōu)異的結(jié)果
牛津儀器 電子背散射衍射（EBSD）探測(cè)器Symmetry S2應(yīng)用
Symmetry S2集極速、靈敏度和多功能于一體，是一款能夠覆蓋所有應(yīng)用領(lǐng)域的全能型EBSD探測(cè)器。這包括：
- 標(biāo)準(zhǔn)金屬和合金樣品的常規(guī)分析
- 深入檢查應(yīng)變和變形
- 復(fù)雜或束流敏感樣品的有效表征
- 優(yōu)化大樣品測(cè)量
- 納米晶材料的透射菊池衍射（TKD）分析
材料性能的快速質(zhì)量控制
- Symmetry S2的最大分析速度 >4500 pps，可在若干秒鐘內(nèi)測(cè)量樣品關(guān)鍵性能
- 依據(jù)ASTM E2627標(biāo)準(zhǔn)分析雙相不銹鋼的晶粒度，晶粒數(shù)量 >2000個(gè)，時(shí)間<80秒。
- 同樣，織構(gòu)和相分?jǐn)?shù)的快速表征使得Symmetry S2非常適合于質(zhì)量控制和高產(chǎn)量應(yīng)用
- 僅使用中等束流（4 nA）即可對(duì)各種材料完成高速分析
敏感樣品的高速分析
- Symmetry S2探測(cè)器內(nèi)獨(dú)特的光纖板光學(xué)系統(tǒng)提供了優(yōu)異的靈敏度，不僅確保來自束流敏感材料的出色數(shù)據(jù)，而且對(duì)所有樣品類型都有性能優(yōu)勢(shì)
- 對(duì)石英（SiO2）礦物樣品，僅使用中等束流以1900 pps的速度在12分鐘內(nèi)完成準(zhǔn)確相分析
- Symmetry S2的靈敏度確保您可以在所有應(yīng)用中利用探測(cè)器的高速度，短時(shí)間內(nèi)完成大量樣品的檢測(cè)
應(yīng)變樣品的詳細(xì)分析
- 為了有效地表征應(yīng)變，具有百萬像素分辨率和最小畸變的探測(cè)器至關(guān)重要
- Symmetry S2是一款能滿足這些標(biāo)準(zhǔn)的探測(cè)器——全1244 x 1024像素衍射花樣是高角度分辨率（HR）EBSD的理想選擇，每個(gè)探測(cè)器都能保證亞像素畸變
- 本例顯示了高質(zhì)量的EBSD花樣與AZtec的高精度標(biāo)定模式如何描述應(yīng)變鎳樣品中的位錯(cuò)胞
分析任意大小的樣品
- 使用傳統(tǒng)EBSD探測(cè)器很難分析大樣品，因?yàn)樗鼈冃枰赟EM的長(zhǎng)工作距離（WD）下進(jìn)行分析，這會(huì)損害標(biāo)準(zhǔn)EBSD幾何位置
- Symmetry S2有軟件控制傾斜，可為每種樣品類型定位于其理想的幾何位置，從TEM薄片到厘米尺度樣品（如原位測(cè)試樣品或地質(zhì)薄片）
- 該面分布圖顯示了來自大型力學(xué)測(cè)試的Ti64合金樣品的EBSD數(shù)據(jù)，晶粒取向數(shù)據(jù)用于計(jì)算加載方向的楊氏模量
| 行業(yè) | 材料 | 典型的EBSD測(cè)量 |
| 金屬研究和加工 | 金屬，合金 | 晶粒尺寸 |
| 航天 | 金屬間化合物 | 晶界表征 |
| 汽車 | 夾雜物/沉淀物/第二相 | 體織構(gòu) |
| 核能 | 陶瓷 | 局部織構(gòu) |
| 微電子 | 薄膜 | CSL晶界表征 |
| 地球科學(xué) | 太陽能電池 | 再結(jié)晶或形變率 |
| 科研領(lǐng)域 | 地質(zhì) | 亞結(jié)構(gòu)分析 |
| 半導(dǎo)體 | 相鑒定 | |
| 超導(dǎo)體 | 相分?jǐn)?shù)和相分布 | |
| 冰 | 相變 | |
| 金屬和陶瓷復(fù)合材料 | 斷口分析 | |
| 骨頭，牙齒 | 晶粒和相間的取向與取向差關(guān)系 |
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