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馬爾文Malvern Zetasizer Nano ZSP ZETA電位分析儀
名稱：物性分析測試儀器
品牌：
型號：
簡介：馬爾文Malvern Zetasizer Nano ZSP ZETA電位分析儀是Zetasizer系列中的高級系統(tǒng)。 馬爾文Malvern Zetasizer Nano ZSP ZETA電位分析儀可測量粒度、蛋白質(zhì)電泳遷移率、納米顆粒與表面...
- 產(chǎn)品介紹
馬爾文Malvern Zetasizer Nano ZSP ZETA電位分析儀是Zetasizer系列中的高級系統(tǒng)。
馬爾文Malvern Zetasizer Nano ZSP ZETA電位分析儀可測量粒度、蛋白質(zhì)電泳遷移率、納米顆粒與表面的ZETA電位，還可選擇性地測量蛋白質(zhì)與聚合物溶液的微觀流變學(xué)。
馬爾文Malvern Zetasizer Nano ZSP ZETA電位分析儀具有的超高性能還可進(jìn)行高分子分子量與第二維里系數(shù)，A2以及kD，DLS相互作用參數(shù)的測量。
馬爾文Malvern Zetasizer Nano ZSP ZETA電位分析儀系統(tǒng)還可用于流動(dòng)模式中，以作為尺寸排阻色譜（SEC）或場流分離（FFF），一個(gè)尺寸檢測器。
Zetasizer Nano ZSP是全世界性能最高的系統(tǒng)，特別適用于需要最高粒度及ZETA電位測量靈敏度的蛋白質(zhì)及納米顆粒的表征。 該系統(tǒng)包含了用于蛋白質(zhì)遷移率測量的蛋白質(zhì)測量選件。
馬爾文Malvern Zetasizer Nano ZSP ZETA電位分析儀系統(tǒng)包含一臺雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀，采用動(dòng)態(tài)光散射法，結(jié)合“NIBS”光學(xué)器件，可增強(qiáng)對聚集體的檢測，還可測量小尺寸或稀釋樣品，以及極低濃度或高濃度樣品。 ZSP還包含了電泳光散射法表征顆粒、分子及表面檢測的ZETA電位分析儀，以及靜態(tài)光散射法表征分子量。與使用90度散射光學(xué)器件的系統(tǒng)相比，該系統(tǒng)采用非侵入式背散射光學(xué)器件（NIBS），使性能得到顯著提升。另外，微觀流變學(xué)選件可用于測量樣品粘度及粘彈特性。流動(dòng)模式選件使該系統(tǒng)可與SEC或FFF系統(tǒng)連接，作為蛋白質(zhì)或納米顆粒粒度檢測器使用。此外，還有用于粘性或高濃度樣品或表面ZETA電位測量的樣品池可供選擇，從可拋棄性樣品池到特定的樣品池，一應(yīng)俱全。
馬爾文Malvern Zetasizer Nano ZSP ZETA電位分析儀測量的參數(shù)：
顆粒和分子尺寸、平動(dòng)擴(kuò)散、電泳遷移率、高低濃度下顆粒的zeta電位、高分子和蛋白質(zhì)溶液的粘度和粘彈性、濃度、分子量、A2, kD。
馬爾文Malvern Zetasizer Nano ZSP ZETA電位分析儀可選附件則可測量固體表面的ZETA電位。
使用專利型M3-PALS技術(shù)，實(shí)現(xiàn)蛋白質(zhì)及納米顆粒ZETA電位測量的超高靈敏度。
粒度測量范圍：0.3 nm（直徑）至10微米，采用專利型 NIBS（非侵入式背散射）技術(shù)。
使用附加的樣品池進(jìn)行表面ZETA電位測量。
分子量測量最小可達(dá)980Da。
微觀流變學(xué)選件可測量粘性及粘彈性。
出眾的蛋白質(zhì)粒度測量靈敏度，0.1mg/mL （溶菌酶）。
樣品濃度范圍為0.1ppm至40%w/v。
內(nèi)置蛋白質(zhì)計(jì)算器，計(jì)算蛋白質(zhì)電荷，A2， kD，以及分子構(gòu)成等參數(shù)。
"質(zhì)量因子"及"專家診斷系統(tǒng)"尤如專家伴隨您的左右，使您成竹在胸。
21CFR軟件選項(xiàng)可實(shí)現(xiàn)ER/ES合規(guī)性。
科研級軟件選項(xiàng)，為光散射專家提供了高級運(yùn)算法則的。
使用自動(dòng)滴定儀選件進(jìn)行自動(dòng)測量。
色譜法檢測器功能可作為粒度檢測器與GPC / SEC 或 FFF配合使用。
光學(xué)濾波器選件，用于改善熒光樣品的測量。
Zetasizer Nano ZSP在一種緊湊型裝置中包含了三種技術(shù)，且擁有一系列選件及附件，以便優(yōu)化并簡化不同樣品類型的測量。
動(dòng)態(tài)光散射法用于測量粒度及分子大小。 DLS可測量作布郎運(yùn)動(dòng)顆粒的擴(kuò)散情況，并采用斯托克斯-愛因斯坦方程將其轉(zhuǎn)化為粒度與粒度分布。 包含的非侵入式背散射技術(shù)（NIBS）使系統(tǒng)具有最高的靈敏度以及最高的粒度及濃度范圍。檢測粒徑隨濃度的變化還可以得到動(dòng)態(tài)光散射相互作用力因子Kd微流變選件采用DLS檢測蹤粒子的運(yùn)動(dòng)，以得到極稀的聚合物與蛋白質(zhì)溶液的結(jié)構(gòu)。
激光多普勒微量電泳法可用于測量ZETA電位。 分子和顆粒在施加的電場作用下做電泳運(yùn)動(dòng)，其運(yùn)動(dòng)速度和Zeta電位直接相關(guān) 使用專利型激光相干技術(shù) M3-PALS （相位分析光散射法）檢測其速率。 從而實(shí)現(xiàn)電泳遷移率的計(jì)算，并得出ZETA電位及ZETA電位分布情況。
表面ZETA電位附件使用示蹤粒子來測量靠近樣品表面的電滲并計(jì)算表面的ZETA電位。
靜態(tài)光散射法用于確定蛋白質(zhì)與聚合物的分子量。 檢測一系列濃度下的樣品的散射光強(qiáng)，并得到ebye曲線 由此，可計(jì)算出平均分子量及第二維里系數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)分子溶解度的測量。
該技術(shù)對整個(gè)系統(tǒng)的靈敏度及穩(wěn)定性要求極高，并需要對設(shè)計(jì)的每個(gè)元件進(jìn)行優(yōu)化，以確保精確性及重復(fù)性。
該軟件的設(shè)計(jì)旨是不影響使用簡便性的情況下實(shí)現(xiàn)功能特點(diǎn)的豐富多樣。 標(biāo)準(zhǔn)操作程序（SOP） 可簡化常規(guī)測量，質(zhì)量因子可對數(shù)據(jù)質(zhì)量進(jìn)行確認(rèn)，專家診斷系統(tǒng)則可為數(shù)據(jù)說明提供協(xié)助。
馬爾文Malvern Zetasizer Nano ZSP ZETA電位分析儀選項(xiàng):
MPT-2自動(dòng)滴定儀可對pH值、電導(dǎo)率或任何添加劑中的變化影響進(jìn)行自動(dòng)化研究。
一系列可拋棄性以及可重復(fù)使用的樣品池，可對優(yōu)化不同樣品體積、濃度以及流量方面的需求
其它選件包括可改善熒光樣品測量的濾波器，以及一個(gè)粘度計(jì)，用于確定樣品粘度達(dá)到技術(shù)要求的精確性。
馬爾文Malvern Zetasizer Nano ZSP ZETA電位分析儀技術(shù)指標(biāo)：
Zetasizer Nano ZSP ZETA電位儀顆粒粒度及分子大小：
測量范圍：:0.3 nm - 10.0 微米*（直徑）。測量原理：:動(dòng)態(tài)光散射法最小樣品容積：:12µL精確度:優(yōu)于NIST可追溯膠乳標(biāo)準(zhǔn)的+/-2%精確性/可重復(fù)性：:優(yōu)于NIST可追溯膠乳標(biāo)準(zhǔn)的+/-2%靈敏度:0.1mg/mL （溶菌酶）
Zeta 電位以及蛋白質(zhì)遷移率
測量范圍：:0.3nm - 100 微米*（直徑）測量原理：:電泳光散射法最小樣品容積：:150µL （20µL ，采用擴(kuò)散障礙法）精確度:0.12µm.cm/V.s，針對水性系統(tǒng)，采用NIST SRM1980標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)。靈敏度:1mg/mL （溶菌酶）
Zetasizer Nano ZSP ZETA電位儀分子量：
測量范圍：:980Da – 20M Da*測量原理：:靜態(tài)光散射法，使用德拜圖最小樣品容積：:12µL（需要3-5種樣品濃度）精確度:+/- 10% 典型值
微觀流變學(xué)（選件）
測量原理：:動(dòng)態(tài)光散射法最小樣品容積：:12µL （僅DLS測量）
常規(guī)
溫度控制范圍:0°C - 90°C +/-0.1**光源:He-Ne 激光器 633nm，最大 5mW。激光安全：:1類電源功率: 100VA尺寸 （寬, 長, 高）：:320mm, 600mm, 260mm重量:19kg
運(yùn)行環(huán)境
溫度:10°C – 35°C濕度：:35% - 80%無冷凝
注解（N）
*:最大范圍，以樣品為準(zhǔn)。**:at 25ºC專利: The Zetasizer Nano range is protected by the following patents: Non-Invasive Back Scatter (NIBS) EP884580, US6016195, JP11051843 High and Low Frequency Electrophoreses (M3) EP1154266, US7217350, JP04727064 Light Scattering Measurements using Simultaneous Detection EP2235501, CN102066901, JP2011523451, US20090251696 Surface Potential Determination in a Dip Cell WO2012172330。
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