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布魯克Bruker Anasys nanoIR3 納米紅外光譜及成像系統(tǒng)
名稱:光譜儀
品牌:
型號:
簡介:nanoIR3 是最新一代納米級紅外光譜、化學(xué)成像和性能成像系統(tǒng),適用于材料科學(xué)和生命科學(xué)領(lǐng)域。該系統(tǒng)還提供基于紅外的化學(xué)成像,提供化學(xué)成分的分布成像。其獨特的點光譜功能還能利用單一光提供光譜和化學(xué)成像。全面的納米級表征nanoIR3 具有...
nanoIR3 是最新一代納米級紅外光譜、化學(xué)成像和性能成像系統(tǒng),適用于材料科學(xué)和生命科學(xué)領(lǐng)域。該系統(tǒng)還提供基于紅外的化學(xué)成像,提供化學(xué)成分的分布成像。其獨特的點光譜功能還能利用單一光提供光譜和化學(xué)成像。
全面的納米級表征
nanoIR3 具有全面的納米級表征能力。獨特的點波譜(POINTspectra)功能,單激光源可同時提供點波譜和化學(xué)成像,加快數(shù)據(jù)獲取,提升研究的成本效益。高波譜成像,能夠創(chuàng)建表面內(nèi)的 3D 波譜圖,幫助識別未知物,并導(dǎo)出另行處理。
Bruker 獨有的共振增強 AFM-IR 模式
可提供高性能、高質(zhì)量的多樣化光譜,幫助識別納米級材料,深入了解材料的變化和成分。共振增強 AFM-IR 是靈敏度最高的有機材料納米級光譜分析技術(shù)
Tapping AFM-IR 化學(xué)成像
nanoIR3 融合了獨有技術(shù),依托多年行業(yè)領(lǐng)先的 Anasys AFM-IR 儀器開發(fā)經(jīng)驗,是性能最強的納米級紅外。專利 Tapping AFM-IR 成像技術(shù)可以實現(xiàn)最高空間分辨率的化學(xué)成像,同時提供優(yōu)質(zhì)紅外光譜。無論用戶是想獲得聚合物、薄膜、單層還是微納米污染物的化學(xué)成分,都能使用現(xiàn)有的 Tapping AFM-IR 光譜、化學(xué)成像和材料性能成像系統(tǒng)快速又輕松地獲得高分辨圖像,該系統(tǒng)適用于材料和生命科學(xué)應(yīng)用。
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