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布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀
名稱：光譜儀
品牌：
型號(hào)：
簡介：布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀是布魯克公司最新推出的一款微區(qū)X射線熒光光譜儀，依據(jù)ASTMB568和DIN/ISO 3497，對(duì)材料成分和多層涂層厚度進(jìn)行無損分析。布魯克Bruker M2 BLIZZARD X...
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- 產(chǎn)品介紹
布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀是布魯克公司最新推出的一款微區(qū)X射線熒光光譜儀，依據(jù)ASTMB568和DIN/ISO 3497，對(duì)材料成分和多層涂層厚度進(jìn)行無損分析。布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀采用開槽設(shè)計(jì)，非常適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品，例如大型印刷電路板。布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀采用全新的、世界領(lǐng)先的XSpect Pro軟件進(jìn)行控制。
PCB分析的理想解決方案。
主要特性：開槽構(gòu)型，帶可伸長的“超大尺寸”樣品臺(tái)；可以調(diào)節(jié)槽縫間隙（10或20毫米）；設(shè)有大型、耐用的樣品托盤，用于樣品定位；全新優(yōu)化XSpect Pro操作軟件；最先進(jìn)的XData軟件用于應(yīng)用程序，標(biāo)準(zhǔn)樣品與數(shù)據(jù)庫管理；可自定義設(shè)置用戶界面和測試結(jié)果界面；具備波譜自動(dòng)保存功能，用于測量后結(jié)果的再處理以及存檔；用戶設(shè)定公差，可以方便地判定“合格/不合格”；“峰值查找器”，用于定性分析未知樣品；軟件含有測試報(bào)告模板以供客戶編輯使用；配置工業(yè)強(qiáng)度的腳踏開關(guān)，用于“開始/停止”測量（可選項(xiàng)）；可完全設(shè)置SPC軟件，配合客戶工藝需求（可選項(xiàng)）；儀器設(shè)計(jì)簡潔堅(jiān)固，只需一條USB電纜與PC連接。
以下是艾克賽普為您介紹布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀的技術(shù)參數(shù)，如有相關(guān)問題，請(qǐng)聯(lián)系長沙艾克賽普儀器儀表公司www.91zenqing.cn，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。
技術(shù)參數(shù)：M2 BLIZZARD 的兩種探測器選項(xiàng)?？蛇x用比例計(jì)數(shù)器（PC）或 高分辨率硅漂移探測器（SDD）。激發(fā)：微焦點(diǎn)，高性能，帶側(cè)窗，鎢靶。高電壓：50 kV，50W。探測器：大面積正比計(jì)數(shù)器，感應(yīng)面積1100mm，能量分辨率<950eV（Mn-K）。選配探測器：高性能Peltier冷卻XFlash硅漂移探測器，感應(yīng)面積30mm2，能量分辨率<150eV，（Mn-Ka）。光斑尺寸：固定或4個(gè)自由切換，?0.1到1.5mm；其他準(zhǔn)直器：例如槽式。樣品視圖：高分辨率彩色攝像系統(tǒng)，放大倍數(shù)~30倍。樣品臺(tái)：手動(dòng)塑料樣品托盤，Z軸自動(dòng)聚焦，行程:30mm。定量分析：總體分析：基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法模式，無標(biāo)樣的FP法（基本參數(shù)法）模式；鍍層分析：FP-基本參數(shù)法模式。供電：110/230 VAC，50/60 Hz，最大功率150W。尺寸（寬x深x高）為1055x688x430mm。重量75kg。
如果你需要布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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