艾克賽普 Chroma 3360-D VLSI 測(cè)試系統(tǒng)是艾克賽普公司全權(quán)代理臺(tái)灣Chroma公司的產(chǎn)品。以下是長(zhǎng)沙艾克塞普儀器設(shè)備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3360-D VLSI 測(cè)試系統(tǒng)的產(chǎn)品特性和功能應(yīng)用,如有疑問或者需要相關(guān)資料,請(qǐng)聯(lián)系長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司www.91zenqing.cn,可提供樣機(jī)和相關(guān)工程師上門演示溝通,聯(lián)系電話:0731-84284278 84284378。
艾克賽普 Chroma 3360-D VLSI 測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品特性:
50 MHz 測(cè)試頻率
32/64 個(gè) I/O 通道
8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購) Pattern 記憶體
彈性化硬體結(jié)構(gòu)
平行測(cè)試 : 最多 8 DUTs
Real Parallel Trim/Match 功能
時(shí)序頻率測(cè)試單位 Timing / Frequency measurement unit (TFMU)
測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, V50, SC312, J750)
Analog PE card 選配 (16 bits)
SCAN 測(cè)試 選配 (512M)
ALPG 測(cè)試 選配供記憶體用
STDF 工具支援 (選配)
人性化 Windows XP 操作環(huán)境
CRAFT C/C++ 程式語言
即時(shí)pattern編輯器,含F(xiàn)ail pin/address顯示
多樣化的測(cè)試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool, Histogram tool and etc.
艾克賽普 Chroma 3360-D VLSI 測(cè)試系統(tǒng)功能應(yīng)用:
The Full Application Functions – Logic, ADDA, LCD, LED, Power, ALPG, Match…etc
3360-D Bridge Test Development to Mass-Production