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艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System
名稱：其他儀器與工具
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System是艾克賽普公司全權(quán)代理臺(tái)灣Chroma公司的產(chǎn)品。以下是長(zhǎng)沙艾克塞普儀器設(shè)備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog T...
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- 產(chǎn)品介紹
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System是艾克賽普公司全權(quán)代理臺(tái)灣Chroma公司的產(chǎn)品。以下是長(zhǎng)沙艾克塞普儀器設(shè)備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System的產(chǎn)品特性和功能應(yīng)用，如有疑問(wèn)或者需要相關(guān)資料，請(qǐng)聯(lián)系長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司www.91zenqing.cn，可提供樣機(jī)和相關(guān)工程師上門演示溝通，聯(lián)系電話：0731-84284278 84284378。
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System產(chǎn)品特性：
50/100MHz測(cè)試工作頻率
1024個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
32M (64M Max.) Pattern 記憶體 (Pattern Memory)
Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
512 DUTS 平行測(cè)試功能
96個(gè)電源通道
硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器 (Algorithmic Pattern Generator)
BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測(cè)試模組選項(xiàng)
好學(xué)易用的 WINDOWS 7作業(yè)環(huán)境
每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
每片 HDADDA 混合訊號(hào)單板可支援32通道
彈性化的 MS C/C++ 程式語(yǔ)言
即時(shí)pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
測(cè)試程式/測(cè)試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750-EX)
多樣化測(cè)試分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool,Histogram tool 等
最經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的SoC和消費(fèi)性混合信號(hào)晶片產(chǎn)品測(cè)試方案
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System功能應(yīng)用：
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System平行測(cè)試功能
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System可在一個(gè)測(cè)試頭中，提供最多 1024個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測(cè)試功 能，最高可同時(shí)測(cè)試512 個(gè)待測(cè)晶片，以提升 量產(chǎn)效能。在Chroma 3650-EX中，每片單一的 HDLPC板擁有128個(gè)數(shù)位通道，并結(jié)合具備高效 能基礎(chǔ)的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4個(gè)數(shù)位通道的時(shí)序產(chǎn)生器，以提供50ps 以 內(nèi)的精準(zhǔn)度。
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System彈性化架構(gòu)
雖然半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是一個(gè)變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其 資產(chǎn)設(shè)備應(yīng)建立在可符合長(zhǎng)時(shí)間需求的設(shè)備之 上。艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System在設(shè)計(jì)其架構(gòu)時(shí)，應(yīng)用先進(jìn) 的規(guī)劃，具備AD/DA轉(zhuǎn)換器測(cè)試模組、ALPG記 憶體測(cè)試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測(cè)試模組、類比測(cè)試模組等等選配，以確保 符合未來(lái)多年的測(cè)試需求。另艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System具 有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模組，可實(shí)現(xiàn)從 設(shè)計(jì)端至量產(chǎn)端使用同一PXI平臺(tái)已減少因硬體 不同所造成的測(cè)試誤差。
CRISP (軟體測(cè)試環(huán)境)
架構(gòu)在Windows 7作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650-EX 的軟體測(cè)試環(huán)境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form)，是一個(gè)結(jié)合工程開(kāi)發(fā)與量 產(chǎn)需求的軟體平臺(tái)。主要包含四個(gè)部份 : 執(zhí)行控 制模組、資料分析模組、程式除錯(cuò)模組以及測(cè) 試機(jī)臺(tái)管理模組。透過(guò)親切的圖形人機(jī)介面的 設(shè)計(jì)，CRISP提供多樣化的開(kāi)發(fā)與除錯(cuò)工具，包 含:Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發(fā)/測(cè)試工程師開(kāi)發(fā)程式時(shí)的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復(fù)任一測(cè)試 參數(shù)，包含時(shí)序、電壓、電流等，以評(píng)估其測(cè)試 流程之穩(wěn)定度。
在量產(chǎn)工具的部份，透過(guò)特別為操作員所設(shè)計(jì) 的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺(tái)，生產(chǎn) 人員可輕易地控制每個(gè)測(cè)試階段。它提供產(chǎn)品導(dǎo) 向的圖形介面操作，用來(lái)控制 Chroma 3650-EX、 晶圓針測(cè)機(jī)和送料機(jī)等裝置溝通。程式設(shè)計(jì)者可 先行在Production Setup Tool視窗之下設(shè)定OCI的 各項(xiàng)參數(shù)，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操作員所 需進(jìn)行的工作，只是選擇程式設(shè)計(jì)者已規(guī)劃好的 流程，即可開(kāi)始量產(chǎn)，大幅降低生產(chǎn)線上的學(xué)習(xí) 的時(shí)間。
艾克賽普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System最低價(jià)位的測(cè)試解決方案
要配合現(xiàn)今功能日趨復(fù)雜的IC晶片，需要具備功 能強(qiáng)大而且多樣化的測(cè)試系統(tǒng)。為了達(dá)成具成 本效益的測(cè)試解決方案，必須藉由降低測(cè)試時(shí) 間和整體成本來(lái)達(dá)成，而非只是簡(jiǎn)單地減少測(cè) 試系統(tǒng)的價(jià)格而已。Chroma 3650-EX的設(shè)計(jì)即 是可適用于所有類型的應(yīng)用環(huán)境，例如 : 工程驗(yàn) 證、晶圓測(cè)試和成品測(cè)試。周邊設(shè)備。Chroma 3650-EX支援多種裝置的驅(qū)動(dòng)程式介面(TTL& GPIB ) ，可進(jìn)行與晶圓針測(cè)機(jī)和送料機(jī)，包括Chroma Handler、SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTITEST 、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等 等裝置之間的溝通。
應(yīng)用支援
不管是新客戶或是現(xiàn)有客戶，Chroma 均提供廣 泛的應(yīng)用支援，以確保所有的設(shè)計(jì)皆能精準(zhǔn)地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產(chǎn) 量、把握新興市場(chǎng)的機(jī)會(huì)、提高生產(chǎn)力、以創(chuàng)新 策略降低測(cè)試成本、或在尖峰負(fù)載情況下增加容 量，Chroma 位于全球的客服支援人員皆會(huì)竭盡 所能提供客戶即時(shí)解有效率的解決方案。
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