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艾克賽普 Chroma 19305 繞線元件脈沖測(cè)試器
名稱：其他儀器與工具
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：艾克賽普 Chroma 19305 繞線元件脈沖測(cè)試器是艾克賽普公司全權(quán)代理臺(tái)灣Chroma公司的產(chǎn)品。以下是長(zhǎng)沙艾克塞普儀器設(shè)備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 19305 繞線元件脈沖測(cè)試器的產(chǎn)品特性和功能應(yīng)用，如有疑問或者需要相...
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- 產(chǎn)品介紹
艾克賽普 Chroma 19305 繞線元件脈沖測(cè)試器為繞線元件脈沖測(cè)試器，系列機(jī)種包含19305單通道及19305-10 10通道輸出測(cè)試，最高擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率 提高放電檢測(cè)能力，10uH感量以上產(chǎn)品測(cè)試，擁 有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng)總量 (Flutter) 及波形二階微分?jǐn)?shù) (Laplacian) 等判定 方法，可有效檢測(cè)線圈自體絕緣不良。
繞線元件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī)耐 壓進(jìn)行測(cè)試，而線圈之自體絕緣不良通常是造成 線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出 腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、加工制程不良或絕緣材料之劣化等所引起， 故加入線圈層間短路測(cè)試有其必要性。
所謂的『繞線元件脈沖測(cè)試』基本上是以一『非 破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測(cè)物 上，再藉由分析／比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之等 效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線元件脈沖測(cè) 試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之 缺陷，例如：層間短路、甚至是不易發(fā)覺之部分放 電等。
艾克賽普 Chroma 19305 繞線元件脈沖測(cè)試器為針對(duì)繞線元件測(cè)試需求所設(shè) 計(jì)，利用一高壓充電之微小電容(測(cè)試能量低)與 待測(cè)線圈形成RLC并連諧振，由諧振之衰減波形， 透過高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗(yàn)出 線圈自體之絕緣不良及局部放電，提供變壓器、 電感等繞線產(chǎn)品進(jìn)行層間短路測(cè)試，讓繞線元件 生產(chǎn)廠商及使用者在品質(zhì)驗(yàn)證時(shí)，不但擁有可靠 的測(cè)試品質(zhì)，能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。
艾克賽普 Chroma 19305 繞線元件脈沖測(cè)試器對(duì)于產(chǎn)線上的測(cè)試需求提供多 通道掃描應(yīng)用(最大10通道) ，單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆掃描測(cè)試，節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成 本。
四種波形判定模式
- 波形面積比較 (Area Size)
- 波形面積差比較 (Differential Area)
- 波形顫動(dòng)總量 (Flutter Value)
- 波形二階微分?jǐn)?shù) (Laplacian Value)
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