牛津儀器 電感耦合等離子體刻蝕PlasmaPro 100 Cobra可安裝多種襯底電極,能夠在很寬的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行工藝,具有200mm單晶圓和多晶圓批處理能力,該工藝模塊可提供具有高度均勻,高產(chǎn)量和高精度的工藝。
牛津儀器 電感耦合等離子體刻蝕PlasmaPro 100 Cobra特征
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牛津儀器的PlasmaPro 100系列具有200mm單晶圓和多晶圓批處理能力。該工藝模式可提供出色的均勻性,高產(chǎn)量和高精度的工藝。
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通過均勻的高導(dǎo)通路徑連接的腔室,將反應(yīng)粒子輸送到襯底 - 在維持低氣壓的同時,允許使用較高的氣體通量
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高度可變的下電極 - 充分利用等離子體的三維特性,在適合的高度條件下,襯底厚度最大可達(dá)10mm
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電極的溫度范圍寬(-150°C至+ 400°C),可通過液氮,液體循環(huán)制冷機(jī)或電阻絲加熱 - 可選的吹排及液體更換單元可自動進(jìn)行模式切換
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由再循環(huán)制冷機(jī)單元供給的液體控溫的電極 - 出色的襯底溫度控制
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射頻功率加載在噴頭上,同時優(yōu)化氣體輸送 - 提供具有低頻/射頻切換功能的均勻的等離子體工藝,可精確控制薄膜應(yīng)力
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ICP源尺寸為65mm,180mm,300mm - 確保最大200mm晶圓的工藝均勻性
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高抽氣能力 - 提供了更寬的工藝氣壓窗口
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晶圓壓盤與背氦制冷 - 更適合的晶片溫度控制
牛津儀器 電感耦合等離子體刻蝕PlasmaPro 100 Cobra應(yīng)用
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III-V族材料的刻蝕工藝
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固體激光器InP刻蝕
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VCSEL GaAs/AlGaAs刻蝕
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射頻器件低損傷GaN刻蝕
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硅 Bosch和超低溫刻蝕工藝
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類金剛石(DLC)沉積
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二氧化硅和石英刻蝕
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用特殊配置的PlasmaPro FA設(shè)備進(jìn)行失效分析的干法刻蝕解剖工藝,可處理封裝好的芯片、 裸晶片以及200mm晶圓
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沉積高質(zhì)量的PECVD氮化硅和二氧化硅薄膜,用于光子學(xué)、電介質(zhì)層、鈍化等諸多其它用途
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用于高亮度LED生產(chǎn)的硬掩模沉積和刻蝕
ICP刻蝕是一種被廣泛使用的技術(shù),可提供高速率、高選擇比以及低損傷的刻蝕。等離子體能夠在低氣壓下保持穩(wěn)定,因此能夠更好地控制刻蝕形貌。 Cobra® ICP刻蝕源在低氣壓下仍可產(chǎn)生高密度的反應(yīng)粒子。襯底上的直流偏壓由一個射頻發(fā)生器獨(dú)立控制, 因此可根據(jù)工藝要求控制離子能量。
電感耦合等離子體刻蝕要點(diǎn)
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高刻蝕速率
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出色的均勻性
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低氣壓下高密度的反應(yīng)粒子
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精準(zhǔn)的襯底直流偏壓控制
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精準(zhǔn)的離子能量控制
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更寬的電極溫度范圍 -150ºC至+400ºC
電感耦合等離子體刻蝕特點(diǎn)及優(yōu)勢
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高刻蝕速率可由高離子密度(> 1011 /cm3)和高自由基密度來實(shí)現(xiàn)
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能夠利用低離子能量實(shí)現(xiàn)對選擇比和損傷的控制
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獨(dú)立的射頻和電感耦合等離子體發(fā)生器分別提供了對離子能量和離子密度的獨(dú)立控制, 從而實(shí)現(xiàn)了高度的工藝靈活性
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在低氣壓工藝下同時仍具有高離子密度,這樣可以改善對外形的控制
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化學(xué)和離子誘導(dǎo)刻蝕
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也可以在RIE模式下運(yùn)行,以滿足某些慢速刻蝕的需要
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可用于ICP-CVD模式的沉積
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高導(dǎo)通的泵送端口可提供高氣體流量,以實(shí)現(xiàn)快速的刻蝕速率
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靜電屏蔽消除了電容耦合,減少了對器件的電學(xué)損傷,以及在腔室內(nèi)減少了雜質(zhì)顆粒的形成
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標(biāo)準(zhǔn)化的晶圓壓盤與氦冷卻,提供了出色的溫度控制,同時可以選擇更寬的溫度范圍