布魯克Bruker D8 DISCOVER X射線多晶衍射儀從科學研究的最前沿帶來了革新的薄膜分析方法并將它引入到質(zhì)量控制、產(chǎn)品和工藝開發(fā)之中。以下是艾克賽普為您介紹布魯克Bruker D8 DISCOVER X射線多晶衍射儀的技術(shù)參數(shù),如有相關(guān)問題,請聯(lián)系長沙艾克賽普儀器儀表公司www.91zenqing.cn,聯(lián)系電話:0731-84284278 84284378。
布魯克Bruker D8 DISCOVER X射線多晶衍射儀技術(shù)參數(shù):第三代Göbel鏡可以提供高通量X射線——這對于所有的薄膜應用研究來說都是非常必要的。整個系統(tǒng)的設(shè)計都基于簡單易行和故障保護的理念之上。像機械減震器這樣的工具允許在無用戶介入的情況下進行全自動操作??梢愿鶕?jù)不同樣品和具體應用的需要從大量高性能的光學配件中進行選擇,從而達到最佳的分辨率。采用新型UMC載物臺和各種不同類型的尤拉環(huán)可以組合成理想的樣品承載系統(tǒng),非常適于進行殘余應力、織構(gòu)和微區(qū)衍射分析。在用X射線反射法對鍍層或者半導體進行研究時甚至還可以利用專用的樣品臺進行變溫研究。不論是利用Ultra GID(超級掠射入射衍射)對納米層進行研究還是利用VÅNTEC-1檢測器對倒易空間測繪進行研究都可以保證在最短的時間內(nèi)完成任務。XRD Wizard和XRD Commander可以在進行各種分析測試時向用戶提供最直觀的圖像,同時智能腳本負責常規(guī)性工作。評估計算程序LEPTOS和MULTEX Area可以確保用戶處于科技的前沿。
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