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布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀
名稱：其他儀器與工具
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簡介：布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀革命性的突破設(shè)計創(chuàng)新，實現(xiàn)了垂直高度重復(fù)性高達4埃，數(shù)據(jù)采集能力提高了40%。這一里程碑的創(chuàng)新和突破，使得布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而...
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- 產(chǎn)品介紹
布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀革命性的突破設(shè)計創(chuàng)新，實現(xiàn)了垂直高度重復(fù)性高達4埃，數(shù)據(jù)采集能力提高了40%。這一里程碑的創(chuàng)新和突破，使得布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。布魯克Bruker Dektak 是首臺基于微處理器控制的輪廓儀，首臺實現(xiàn)微米測量的臺階儀，首臺可以達到3D測量的儀器，首臺個人電腦控制的輪廓儀，首臺全自動300mm臺階儀。現(xiàn)在，全新的布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀延續(xù)了這種開創(chuàng)性的風(fēng)格，成為世界第一臺采用具有具有單拱龍門式設(shè)計，配備全彩HD攝像機，并且利用64位同步數(shù)據(jù)處理模式完成最佳測量和操作效率的臺階儀。
布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀提高測量和數(shù)據(jù)分析速度，首次采用獨特高速的直接驅(qū)動掃描樣品臺，布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀在不犧牲分辨率和基底噪音水平的前提下，大大縮短了每次掃描的間隔時間，將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外，布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀采用具有64位數(shù)據(jù)采集同步分析的Vision64，可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快數(shù)據(jù)濾波和多次掃描數(shù)據(jù)庫分析的速度。
布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀提高操作的可重復(fù)性，使用單拱龍門結(jié)構(gòu)設(shè)計更堅硬持久不易彎曲損壞，而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪音對測量信號的影響。布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀會把系統(tǒng)和環(huán)境噪音引起的測量誤差降到最低，能夠更穩(wěn)定可靠的掃描高度小于10nm的臺階，獲得其形貌特征。
布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀有完善的數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng)，與布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀的創(chuàng)新性設(shè)計相得益彰的配置是布魯克Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上最實用簡潔的用戶界面，具備智能板塊，可視化的使用流程，以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿足用戶的各種使用要求，快速簡便的實現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析。
布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀具有簡便易行的實驗操作系統(tǒng)，布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀新穎的探針的部件自動對準(zhǔn)裝置，可以盡量避免用戶在裝針的過程中出現(xiàn)針尖損傷等意外。為盡可能滿足所有應(yīng)用的需求，布魯克提供各種尺寸的標(biāo)準(zhǔn)探針和特制探針。高效率的保證，布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀卓越的測量重復(fù)性為工程師們提供準(zhǔn)確的薄膜厚度和應(yīng)力測量，使其可以精確調(diào)節(jié)刻蝕和鍍膜工藝來提高產(chǎn)品的優(yōu)良率。
如果您需要布魯克Bruker DektakXT 探針式輪廓儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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