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布魯克Bruker JVSensus 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x

名稱(chēng)：其他儀器與工具

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簡(jiǎn)介：布魯克Bruker JVSensus 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x是最新的計(jì)量系統(tǒng)儀器。布魯克Bruker JVSensus 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x有助于發(fā)現(xiàn)問(wèn)題過(guò)程中遇到晶圓生產(chǎn)使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術(shù)。布魯克Bruker JVSensus 半導(dǎo)體...

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布魯克Bruker JVSensus 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x是最新的計(jì)量系統(tǒng)儀器。布魯克Bruker JVSensus 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x有助于發(fā)現(xiàn)問(wèn)題過(guò)程中遇到晶圓生產(chǎn)使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術(shù)。布魯克Bruker JVSensus 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x應(yīng)用包括監(jiān)測(cè)邊緣損傷，超快速檢測(cè)防止昂貴的晶片破損。布魯克Bruker JVSensus 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x監(jiān)控流程工具的任何技術(shù)節(jié)點(diǎn),這樣可以減少周期時(shí)間和促進(jìn)工廠擴(kuò)張。布魯克Bruker JVSensus 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x容易識(shí)別晶體缺陷，一旦缺陷被觀察到,非破壞性截面查看圖片可以執(zhí)行定位晶片內(nèi)的缺陷位置深度。測(cè)量可以執(zhí)行在毯子、圖案和金屬化晶片沒(méi)有樣品制備。缺陷可以被識(shí)別,即使模式是在晶片上。機(jī)器人裝載可以添加從2到300毫米大小的晶片,GaN Si或錠幻燈片,布魯克Bruker JVSensus 半導(dǎo)體計(jì)量?jī)x可以在幾分鐘內(nèi)檢測(cè)滑。