布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀是一種用于納米結(jié)構(gòu)材料的可靠而且經(jīng)濟(jì)的無(wú)損分析方法當(dāng)今的材料科學(xué)家和工程師已經(jīng)可以在納米尺度了解和改進(jìn)材料的性質(zhì)。令人興奮的新材料,如設(shè)計(jì)聚合物與生物陶瓷等正在研制之中,同時(shí)液晶、金屬有機(jī)物和薄膜涂層等材料的更新和發(fā)展也正因?yàn)閷?duì)它們納米結(jié)構(gòu)的研究和改進(jìn)而逐步變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。。SAXS能夠給出1-100納米范圍內(nèi)的顆粒尺度和尺度分布以及液體、粉末和塊材的形貌和取向分布等方面的信息。
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布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀的技術(shù)參數(shù):布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀因其光束獨(dú)具的高強(qiáng)度、平行初級(jí)光束和二維探測(cè)器,而與同步輻射SAXS光束具有相似的設(shè)計(jì)。使用二維探測(cè)器避免了零維和一維探測(cè)器在數(shù)據(jù)采集時(shí)產(chǎn)生的數(shù)據(jù)誤差并除去了對(duì)樣品限制性初始假定的必要。事實(shí)上,布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀可以分析并澄清樣品的性質(zhì),甚至在樣品顆粒不對(duì)稱或表現(xiàn)有擇優(yōu)取向的情況下。另外,通過(guò)運(yùn)行布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀可以得到樣品具有µm量級(jí)SAXS分辨率的實(shí)空間圖像。布魯克Bruker NANOSTAR X射線多晶衍射儀還配置了高強(qiáng)度的X射線源和新型多層光學(xué)配件,可以為樣品提供高強(qiáng)類點(diǎn)入射光束。標(biāo)配的HI-STAR探測(cè)器是一種真正意義上的具有光子計(jì)數(shù)能力的無(wú)噪實(shí)時(shí)二維探測(cè)器。
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