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秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡
名稱：其他儀器與工具
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簡介：秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡是一款可以挑戰(zhàn)納米設(shè)計(jì)應(yīng)用的理想平臺(tái)，秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡同時(shí)具備極佳的精度和微量分析的能力。秦思肯 GAIA3 model 2016 ...
- 產(chǎn)品介紹
秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡是一款可以挑戰(zhàn)納米設(shè)計(jì)應(yīng)用的理想平臺(tái)，秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡同時(shí)具備極佳的精度和微量分析的能力。秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡擅長的一些應(yīng)用包括制備高質(zhì)量的超薄TEM樣品，在技術(shù)節(jié)點(diǎn)減少層級(jí)的過程，精確的納米構(gòu)圖或高分辨率的三維重建。
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秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡以獨(dú)特的方式結(jié)合了三透鏡物鏡和crossover-free模式；先進(jìn)的且可隨意變化的探測系統(tǒng)可用于同步獲取不同的信號(hào)；超高的納米分辨率：15keV下0.7nm，1keV下1nm；極限超高分辨率：1keV下1nm；可變角度的BSE探測器，最優(yōu)化了低能量下能量反差；實(shí)時(shí)電子束追蹤(In-flight Beam TracingTM）實(shí)現(xiàn)了電子束的最優(yōu)化；傳統(tǒng)的TESCAN大視野光路（Wide Field OpticalTM）設(shè)計(jì)提供了不同的工作和顯示模式；有效減少熱能損耗，卓越的電子鏡筒的穩(wěn)定性；新款的肖特基場發(fā)射電子槍現(xiàn)在能實(shí)現(xiàn)電子束電流達(dá)到400nA，且電子束能量可快速的改變；為失效分析檢測過程中的最新技術(shù)節(jié)點(diǎn)提供了完美的解決方案；適合精巧的生物樣品成像；可觀察磁性樣品；優(yōu)化的鏡筒幾何學(xué)配置使得8’’晶元觀察成為可能（SEM觀察和FIB納米加工）；獨(dú)有的實(shí)時(shí)三維立體成像，使用了三維電子束技術(shù)友好的，成熟的SW模塊和自動(dòng)化程序；Cobra FIB鏡筒：高性能的Ga FIB鏡筒，實(shí)現(xiàn)超高精度納米建模；在刻蝕和成像方面是最頂尖水平的技術(shù)；Cobra保證在最短時(shí)間內(nèi)完成剖面處理和TEM樣品制備FIB最佳分辨率<2.5nm；FIB-SEM斷層分析可應(yīng)用于高分辨的三維顯微分析；適合生物樣品的三維超微結(jié)構(gòu)研究，例如組織和完整的細(xì)胞；低電壓下絕佳的性能，適合于刻蝕超薄樣品和減少非晶層。
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