日立Hitachi AFM5100N 通用多功能原子力顯微鏡除了激光檢測方式之外,全新的「自檢測懸臂」,在保證高分辨表面形貌觀察的同時,大大簡化了AFM懸臂操作。
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1. 簡便的懸臂安裝:通常的懸臂是非常渺小而且很難操作,內(nèi)部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的AFM探針要大得多,容易拿取,安裝非常簡單方便。
2. 不用調(diào)整激光光斑的自檢測方式:激光檢測方式的探針需要調(diào)節(jié)激光光斑的位置,操作復(fù)雜,而采用自檢測方式的「自檢測懸臂」無需調(diào)節(jié)激光光斑。
3. 精確的懸臂定位:懸臂的機械結(jié)構(gòu),能夠以俯視方式直接觀察懸臂的位置,從而輕松調(diào)整樣品的測量的位置。除此之外,更加尖銳的探針提高了分辨率。
4. 方便的操作導(dǎo)航系統(tǒng):通過流程圖形式的導(dǎo)航系統(tǒng),任何人都可以輕松地進(jìn)行高分辨表面測量。另外,通過設(shè)定樣品的軟硬度和凹凸系數(shù)等參數(shù),能夠簡單確定測量條件。
5. 緊湊的主機:主機上包含減震臺、隔音罩、光學(xué)顯微鏡等附件,安裝緊湊,體積小巧。
6. 優(yōu)越的擴展功能:通過激光檢測方式,能夠擴展各種各樣的選配功能。另外,只要插拔一根電纜就能夠切換成激光檢測方式。
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