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捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀

名稱:其他儀器與工具

品牌:

型號:

簡介:捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器,組合使用WDS和EDS,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。 日本電子新開發(fā)出的EPMA (電子探針)秉承近半個世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史,JXA-8...

  • 產(chǎn)品介紹
捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器,組合使用WDS和EDS,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
日本電子新開發(fā)出的EPMA (電子探針)秉承近半個世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史,JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析,這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能完全滿足多種需求的強力分析工具之一。
捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀的EPMA快速啟動點擊任何一點,就能開始預(yù)設(shè)的EDS定性、定量分析或WDS分析。

檢測元素范圍 WDS:(Be) /B~U, EDS:B~U
X射線檢測范圍 WDS檢測的波長范圍:  0.087~9.3nm,
EDS EDS檢測的能量范圍:  20keV
分光譜儀數(shù)量 WDS: 1~5道可選、EDS: 1臺
最大樣品尺寸 100mm × 100mm × 50mm(H)
加速電壓 0~30kV(以0.1 kV為步長)
束流電流范圍 10-12 ~ 10-5 A
束流電流穩(wěn)定度 5%/h, ±0.3%/12h(W)
二次電子分辨率 6nm(W), 5nm(LaB6
(W.D. 11mm, 30kV)
掃描倍率 ×40 ~  ×300,000(W. D. 11mm)
掃描圖像分辨率 最大 5,120× 3,840
彩色顯示器 EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024
SEM操作、 EDS分析用:  LCD 1,280 × 1,024
光學(xué)顯微鏡  
分辨率 ~1um
焦深 1um
真空系統(tǒng) 機械泵、分子泵、離子泵                           
真空度 樣品室:  優(yōu)于8.0 x 10-4Pa,
電子槍:  優(yōu)于9.0 x 10-5Pa

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