秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡
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簡介：秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡是一款獨特的能實現(xiàn)綜合性能的一體化FIB-SEM。秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡具備了各種強大的應(yīng)用功能，如快捷的微納米FIB加工，超高分辨率可靠...
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秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡是一款獨特的能實現(xiàn)綜合性能的一體化FIB-SEM。秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡具備了各種強大的應(yīng)用功能，如快捷的微納米FIB加工，超高分辨率可靠分析或復雜的3D重構(gòu)分析等。TESCAN不僅提供秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡這類最新型的儀器設(shè)備，也同時致力于推動科學研究的前沿發(fā)展。TESCAN的定制系統(tǒng)能滿足各類客戶的具體需求，從材料科學到生命科學，從材料工程到半導體行業(yè)，TESCAN的設(shè)備一直都表現(xiàn)出高性能的特點。
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秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡主要特點：新開發(fā)的配備TriglavTM物鏡及先進探測系統(tǒng)的高分辨掃描電子顯微鏡；獨特的無交叉模式及超高分辨率物鏡的組合，以獲得良好的成像模式先進可變的探測系統(tǒng)能同時獲得各種信號；超高納米分辨率：0.7nm@15keV；極限分辨率：1nm@1keV；角度選擇BSE探測器能在低束能下獲得最優(yōu)的形貌及元素襯度；實時電子束追蹤技術(shù)TM能優(yōu)化電子束性能；傳統(tǒng)的TESCAN大視野光學器件™設(shè)計提供各種工作和顯示模式；EquiPower™提供了優(yōu)秀的電子束穩(wěn)定性；新的肖特基場發(fā)射電子槍能使電子束流達到400nA以及實現(xiàn)電子束能量的快速改變；最新的探測技術(shù)可應(yīng)用于先進的失效分析過程中；易損生物樣品的成像；磁性樣品的成像；優(yōu)化的幾何鏡筒分布能夠獲得8’’晶圓分析手段（SEM探測，F(xiàn)IB微加工）；3D電子束技術(shù)獨特的立體成像；友好的用戶界面，成熟的軟件模塊和自動化程序
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