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反射式在線膜厚測(cè)量儀 FTPadv inline NIR

名稱:涂鍍層測(cè)厚儀

品牌:

型號(hào):

簡介:FTPadv inline NIR 反射式在線膜厚測(cè)量儀FTP反射式在線膜厚測(cè)量儀,每個(gè)控制器可支持1-7個(gè)光學(xué)探頭,內(nèi)部具有參考樣品。光譜范圍420-2000nm, 可測(cè)量TCO薄膜的膜厚和片狀電阻 廠商名稱: SENTHCH 商品名稱:...

  • 產(chǎn)品介紹

FTPadv inline NIR 反射式在線膜厚測(cè)量儀FTP反射式在線膜厚測(cè)量儀,每個(gè)控制器可支持1-7個(gè)光學(xué)探頭,內(nèi)部具有參考樣品。
光譜范圍420-2000nm, 可測(cè)量TCO薄膜的膜厚和片狀電阻
FTPadv inline NIR/uploads/allimg/110905/2-110Z5094246119.jpg

 廠商名稱: SENTHCH
商品名稱: 反射式在線膜厚測(cè)量儀
商品型號(hào): FTPadv inline NIR

 
Sensol –M
大面積樣品臺(tái) ,反射式測(cè)量R(λ)
玻璃上TCOs薄膜的厚度
吸收層膜厚
iZnO, ZnO:Al, SnO,
a-Si:H, μc-Si:H
CIS 和 CIGS

SenSol H
水平掃描樣品系統(tǒng)用于大玻璃平板
•霧狀
•透射光譜T(λ) 和反射光譜R(λ)
•方塊電阻:非接觸法
•方塊電阻:四探針
•膜厚測(cè)量探頭
FTPadv inline NIR

SenSol V
垂直掃描系統(tǒng)
•絨面
•透射光譜T(λ) 和R(λ)
•片狀電阻Ω:光學(xué)法
•片狀電阻Ω:4探針
•膜厚測(cè)量探頭
•Raman 拉曼
•EQE
•I-V
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