自動大面積太陽能電池薄膜垂直測量系統(tǒng) SenSol V
名稱：涂鍍層測厚儀
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簡介：SenSol V 自動大面積太陽能電池薄膜垂直測量系統(tǒng)自動控制大面積垂直掃描，不帶傳感器，電池片尺寸160cmX100cm，兩個同步傳感器平臺測量R反射和T透射玻璃傳輸。 可測量膜厚、片狀電阻（接觸法/非接觸法）、絨面、禁帶寬度、結晶態(tài)、內...
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- 產品介紹
SenSol V 自動大面積太陽能電池薄膜垂直測量系統(tǒng)自動控制大面積垂直掃描，不帶傳感器，電池片尺寸160cmX100cm，兩個同步傳感器平臺測量R反射和T透射玻璃傳輸。
可測量膜厚、片狀電阻（接觸法/非接觸法）、絨面、禁帶寬度、結晶態(tài)、內部量子效率、I(V)曲線
Sensol –M
大面積樣品臺 ，反射式測量R(λ)
玻璃上TCOs薄膜的厚度
吸收層膜厚
iZnO, ZnO:Al, SnO,
a-Si:H, μc-Si:H
CIS 和 CIGS
SenSol H
水平掃描樣品系統(tǒng)用于大玻璃平板
•霧狀
•透射光譜T(λ) 和反射光譜R(λ)
•方塊電阻：非接觸法
•方塊電阻：四探針
•膜厚測量探頭
SenSol V
垂直掃描系統(tǒng)
•絨面
•透射光譜T(λ) 和R(λ)
•片狀電阻Ω：光學法
•片狀電阻Ω：4探針
•膜厚測量探頭
•Raman 拉曼
•EQE
•I-V
商品名稱： 自動大面積太陽能電池薄膜垂直測量系統(tǒng)
商品型號： SenSol V
